中古 SII NANOTECHNOLOGY / SEIKO Chips200 #9043060 を販売中

SII NANOTECHNOLOGY/SEIKO Chips200は、半導体デバイスや材料の重要な電気的、物理的、光学的特性を正確かつリアルタイムに測定するウェーハ試験および計測機器です。特徴/ひずみ測定、ナノメートルスケール解析、故障解析など、ウェーハ表面データの解析が可能です。このシステムには、光学偏光イメージング、暗視野イメージング、電子後方散乱回折（EBSD）など、ユニークな画像技術が組み込まれています。これらの技術により、粒界、界面粗さ、微小欠陥などのさまざまな特徴の高解像度イメージングおよび機能固有の解析が可能になります。ダークフィールドイメージング機能により、転位、粒界、双子、酸化物層などの形態学的特徴を検出することができます。これは、ユーザーがさまざまな欠陥を観察して特定できるため、故障解析に特に役立ちます。一方、EBSD技術は、電子ビームを使用して結晶方向の回折パターンを作成します。これは、ウェーハの結晶構造を正確に測定するために使用でき、結晶の向き、粒度、および結晶欠陥に関する情報を提供します。このマシンには、高度なウェーハ計測機能も装備されています。CD（臨界寸法）、接点穴サイズ、線幅、オーバーレイなどの3次元パラメータを自動的に測定できます。このように、SEIKO Chips200は、デバイスのパフォーマンスを評価するために使用できるデータを迅速に生成することができます。このツールはセットアップと使用が簡単です。それは経験の浅いユーザーのために直感的であるグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）が付属しています。また、高度に自動化された操作とデータ入力を備えているため、非常に効率的で費用対効果が高くなります。全体として、SII NANOTECHNOLOGY Chips200は強力で汎用性の高いウェーハテストおよび計測資産です。半導体デバイスの高精度測定・解析に幅広く対応しています。その高度なイメージング技術と自動化された操作により、デバイスの品質とパフォーマンスを監視するための貴重なツールとなります。