中古 SIGNATONE / LUCAS LABS 302 #9397382 を販売中

SIGNATONE/LUCAS LABS 302ウェーハ試験および計測装置は、性能、試験および計測スキャンを通じて、半導体ウェーハの正確な分析を提供します。SIGNATONE 302システムは、非接触レーザースキャンを利用して、半導体デバイスや材料の製造において迅速かつ効率的にウェーハを評価します。LUCAS LABS 302 Wafer Testing and Metrology Unitには、コントローラ、スキャンヘッド、カメラが含まれており、結果をリアルタイムでフィードバックします。これにより、均一な解像度で高アスペクト比の構造を迅速にスキャンでき、ナノメートルスケールの特徴を正確かつ信頼性の高い測定が可能になります。このマシンの高出力レーザーは、パネル寸法、事前調整された表面、および電気パラメータを正確にスキャンし、気孔検査やインスタントインラインメトロロジーアプリケーションに最適です。302で収集したデータを高度なアルゴリズムで解析し、結果をリアルタイムで表示します。高解像度の画像と表面解析を使用して位置精度と寸法精度を測定し、迅速かつ効率的なウェーハ評価を可能にします。評価が完了すると、画像を保存してアーカイブし、さらなる比較と分析を行うことができます。SIGNATONE/LUCAS LABS 302は、粒子、微生物学的および化学的汚染物質、およびシリコンウェーハ上の小さな欠陥を検出して特定するためにも使用できます。非線形表面測定と精密金型欠陥検出により、最小の欠陥でも検出することができます。アセットの自動3D再構築アルゴリズムは、輪郭、表面、テクスチャなどの詳細な欠陥情報を提供します。SIGNATONE 302ウェーハテストと計測モデルは、テストの信頼性と精度を提供し、顧客の歩留まりとコスト削減を向上させます。装置の高速スキャンおよびイメージング速度は、複数のレーザー波長、光ファイバ、カスタマイズ可能なソフトウェアの使用などの高度な技術によって可能になります。さらに、システムは生産効率を最大限に高めるように設計されており、テストや計測のニーズに最適です。