中古 SENSOFAR Plu Neox #9379512 を販売中

SENSOFAR Plu Neoxは、ラボレベルのウェーハ表面解析に優れた精度と一貫性を提供する強力なウェーハ試験および計測機器です。これは、比較的低コストで手動および自動化されたプロセスに適した機能テストと計測を提供します。その高度な機能により、ウェーハ制御や品質保証、故障診断、製品検証など、さまざまなアプリケーションに適しています。Plu Neoxシステムは、CCD （Charge Coupled Device）カメラの配列を使用してウェーハ表面の画像を取得し、信頼性の高い表面解析を行う高度な検出および測定技術を使用しています。光ベースのイメージング技術を使用することにより、このユニットは、ステップまたは高さ、プロファイルまたは平坦度、色収差、粒度、表面汚染など、ウェーハ表面の膨大な量の物理特性を測定することができます。さらに、マシンは、表面上の任意の潜在的な欠陥や欠陥を検出することができます。このツールは、迅速な分析と測定結果だけでなく、包括的なデータ収集スキームを提供します。さらに、ユーザーは、アセットのカスタムレポート生成およびグラフィカル表示ツールを通じて、収集されたデータを簡単に操作できます。SENSOFAR Plu Neoxを使用すると、測定領域間の統計的差異を簡単に追跡および比較することができ、他のシステムに接続することができ、リモート操作と監視を可能にします。ユーザビリティを最大限に高めるために、Plu Neoxには合理化されたユーザーインターフェイスと、運用効率を向上させるさまざまな機能強化を組み込んだ高度にカスタマイズ可能なツールがあります。このモデルには、最大5,000の測定ポイントを持つマルチポイント比較などの高度なテストパラメータも多数搭載されています。これにより、複数のレベルやレイヤーを持つような複雑な構造を持つウェーハを正確に分析することができます。さらに、直感的なグラフィカルインターフェイスとさまざまな出力フォーマットを備えているため、評価プロセスを容易にし、ウェーハのテスト結果をよりよく理解することができます。SENSOFAR Plu Neoxの柔軟な設計により、他のシステムと容易に統合でき、さまざまなマシンと連携して、ストレス、ひずみ、不透明度などのパラメータを正確かつ信頼性の高い分析を行うことができます。全体として、Plu Neoxは強力で費用対効果の高いウェーハ試験および計測システムであり、半導体、光学、自動車、航空宇宙など幅広い産業に対応しています。その高度な機能は、ユーザーフレンドリーなデザインと組み合わされて、あらゆるラボに理想的なソリューションになります。