中古 SENSOFAR 3D Surface profilers #293672431 を販売中

SENSOFAR 3Dサーフェスプロファイラは、表面の3次元形状を非常に正確に測定できるように設計されたウェハテストおよび計測機器です。高度な光学スキャン技術を使用して、半導体ウェーハの表面形状を高解像度で正確に測定します。このシステムは、最先端の光学干渉計と独自の3Dプロファイロメトリアルゴリズムを組み合わせて、半導体ウェーハのテストと分析のための高精度で信頼性の高いツールを作成します。高度な光学スキャン技術と3Dプロファイル測定アルゴリズムにより、ウェーハ表面から非常に詳細で正確で正確な形状測定をキャプチャできます。ウェーハ表面の地形だけでなく、ウェーハ表面の様々な特徴や輪郭を測定します。単結晶ウェハ、多結晶ウェハ、SOIウェハ、接合ウェハなど、様々な半導体ウェハの測定が可能です。また、高い反射率を持つウェーハを測定し、表面の広範なディテールを測定することができます。このツールはまた、高速かつ正確に薄膜表面を測定することができます。3Dサーフェスプロファイラは、+/-5nm内で非常に正確な解像度を提供します。また、高速で動作し、ウェーハの3Dプロファイルをわずか24秒で生成します。アセットによって生成される測定と結果は、高度な3Dプロフィロメトリアルゴリズムのために非常に信頼性が高いです。このモデルは非常に柔軟でアップグレード可能であり、顧客のニーズを満たすために機能を拡張することができます。SENSOFAR 3Dサーフェスプロファイラは、半導体ウェーハの高精度で詳細な測定を提供する強力で信頼性の高い機器です。高い信頼性と精度を維持しながら、卓越した解像度とスピードを提供することができます。これにより、半導体ウェーハを精度よく測定・分析する必要がある方に最適です。