中古 SEMILAB SSM2000 #293661704 を販売中

SEMILAB SSM2000は、半導体デバイスの研究開発用に設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。最先端の自動ウェーハサイズ試験、計測、欠陥検出機能を提供します。SEMILAB SSM 2000は、金属/半導体サンプルの電気測定と光学測定の両方が可能です。このシステムは、柔軟性と幅広い機能を提供し、幅広い顧客要件に対応します。SSM2000は、精度と信頼性を確保するために優れたwaferSizeテストオートメーションアーキテクチャを利用しています。高度なオートメーション機能により、最適なテストレシピを自動的に選択し、テストパラメータを調整し、最適なパフォーマンスを得るために測定構成の組み合わせを選択できます。また、非接触試験のための高精度リニアXYZモータスキャンユニット（MSU）を搭載しています。SSM 2000はまた、高解像度の正確な測定のための自動フォーカシングツールを備えた光学計測機能を提供します。このアセットの統合された光学イメージングおよびカメラ機能は、迅速かつ正確な欠陥検出を提供します。SEMILAB SSM2000には、ドープされた領域とドープされていない領域を測定するために使用できる統合された光ファイバ尋問モデルがあります。SEMILAB SSM 2000は、アップグレード可能なモジュールとカスタマイズ可能なソフトウェアにより、柔軟性と拡張性を最大限に高めるように設計されています。この機器は、ユーザー定義の統計分析、データレポートプロセス、トレンド分析などのさまざまなデータ収集ツールを備えています。直感的なユーザーインターフェイス、カスタマイズ可能なソフトウェア、その他の幅広い機能も含まれています。全体として、SSM2000は、半導体デバイスの研究開発のための非常に信頼性の高い試験および計測結果を保証するために、最高の性能と精度を提供します。このシステムは、ウェーハサイズの自動テスト、計測、欠陥検出のための効率的で信頼性の高いプラットフォームをユーザーに提供します。