中古 SDI SPV 300 #9157370 を販売中

SDI SPV 300は、幅広い半導体製品に対する包括的な洞察を提供するために設計された汎用性と強力なウェーハ試験および計測システムです。最先端の光学照明システムを誇るSDI SPV-300は、ウェーハ表面の比類のない光学カバレッジを可能にし、半導体製品の各部品に必要な正確な感度と精度を確保します。SPV 300は、最新のスキャンおよびイメージング技術を使用して、テストウェハの完全なカバレッジを提供します。この高度で包括的なスキャンシステムにより、高速でユーザー定義のスキャンレートで高解像度の画像を取得できます。高度な画像処理とSPV-300が提供する柔軟性により、さまざまなサイズ、解像度、設定にわたる画像の取得が可能になり、さまざまな波長のウェーハを分析することができます。SDI SPV 300は、高度なリアルタイム計測機能も備えています。これにより、極めて精度と精度の高い試験対象フィーチャーのリアルタイム分析と測定が可能になり、試験項目のパラメータをリアルタイムで評価し、必要な品質基準や要件を満たさない試験項目を効果的にスクリーニングできます。SDI SPV-300は、高速充電結合デバイス（CCD）カメラと高精細光学システムの組み合わせを利用することで、ウェハテストおよび計測アプリケーションに優れています。これは主に電子ビーム顕微鏡の下で提示されるときウェーハに収容することができる多数の小型化された部品によるものです。また、標準的な顕微鏡やイメージングシステムでは見えない非常に小さなサイズのウェーハを検査することもできます。SPV300の優れた機能と性能により、ウェーハ試験および計測アプリケーション、特に精度と品質要件の厳しい半導体製品に最適なソリューションです。独自の光学カバレッジと高速イメージングシステムにより、テストおよび測定中のウェーハのデバイスまたは機能に対する前例のない洞察を可能にします。そのため、SPV-300はIoTデバイス、先進ICなど、高精度・高品質を必要とするアプリケーションでの使用に適しています。