中古 RUDOLPH WS 3840 #9136132 を販売中

製造業者
RUDOLPH
モデル
WS 3840
ID: 9136132
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2010
Bump inspection system, 12" Granite base air bearing XY stages Vacuum chuck with rotation for 5", 6", 8" and 12" wafers Z Slide for focus control and wafer loading / Unloading OLYMPUS Optical head with 5 positions auto lens turret Bright field lighting Low angle dark field lighting Objective lenses: 1.25x, 2.5x, 5x and 10x 4K TDI Line scan camera & electronics Image frame grabber Dual quad core XENON processor PC based 2D vision engine Computer with 3.2GHz P4 processor RAM: 1GB Hard disk: 250 GB (2) Hot swap bays CDRW / DVDRW Operating system: Window XP Console arm with (2) flat panel color monitors Keyboard and mouse (4) Positions light tower Data analysis and reporting Color defect review Mini-environment fan / Filter units (ISO Class 2) Electronic wafer maps (KLAINF, EF, WWW, Semi G85 and SECS S12) 721713 Option Xport Wafer scanner ISO Class 1 clean high speed wafer handling EFEM outfitted With dual arm robot Wafer thicknesses: (725um) Down to 400 microns thickness for 12" wafers Down to 190 microns thickness for 8" wafers Automated whole wafer handling Dual arm vacuum assist backside wafer handling Minimal contact end effector Integrated laminar clean air flow mini-environment (ULPA Filtration) Robot with integrated mapper 721753 2 Option Bridge load port BROOKS Vision / Cassette pivot, 8" XENON Dual quad processor 2D vision engine 72054 1 Option, 3D Inspection, Hi Res 3D Sensor High resolution: 4 MHz 3D Sensor scans up to a .6mm swath Depth of field: 200um 1U Rack mount chassis Dual INTEL quad-core XENON processor 2.5 GHz DRAM: 2GB SATA Hard disk drive: 250 GB CD ROM Drive Ethernet RUDOLPH PCIDSP Board (5) Microns ultra high resolution 3D sensor 716983 1 Standard, 3D Height Verif Wafer, 100um, 300mm 716810 1 Option, Dual OCR X Port 66807 1 Computer, Remote defect review Wafer capability, 8"-12" Ultra flat chuck: <5 Microns chuck 2010 vintage.
RUDOLPH WS 3840は、半導体デバイス企業向けに設計されたウェハテストおよび計測機器です。これは、複数の測定デバイスからの計測データを統合および分析するための自動システムです。このユニットは、中央サーバーに接続された一連の高性能ワークステーションで構成されています。ウェハエリア、ピッチ、金型サイズ、金型配置など、複数の計測データを処理できます。この機械は高精度で再現性があり、デバイス構造の変化を迅速に検出および分析することができます。また、突起やダイ数などの欠陥カウントやウェーハ機能を分析する高度な2Dイメージング機能も備えています。このツールには、操作が簡単で直感的なソフトウェアなど、分析データを素早く設定してアクセスできるその他の機能も含まれています。また、分析データ、出力フォーマット、ユーザーの好みをカスタマイズできるパラメータ駆動アセットも備えています。精度を確保するために、モデルはパターン認識を利用して設計の小さな変動を検出および分析します。これには、フォーカスを調整したり、レンズの配列を介して改善された照明を提供することができるアダプティブ光学系が含まれています。堅牢な設計により、高い信頼性と耐久性を実現しています。また、高度なスケーラビリティを提供し、ユーザーは大規模な計測タスクを簡単に実行できます。最後に、システムは高いレベルのセキュリティを提供し、リモートアクセスと操作を可能にします。それはいくつかの業界標準に準拠しており、インストール、トレーニング、メンテナンスなどの包括的なサポートサービスが付属しています。結論として、RUDOLPH WS3840は、半導体デバイス企業のニーズを満たすように設計された高度なウェーハ試験および計測ユニットです。ユーザーにさまざまな機能と機能を提供し、正確で効率的な計測テストを可能にします。
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