中古 RUDOLPH MPIIIA 300 #9411954 を販売中

RUDOLPH MPIIIA 300は、RUDOLPH Technologiesが開発した高性能ウエハテストおよび計測機器です。このシステムは、半導体ウェーハの光学検査および電気試験用に特別に設計されています。MPIIIA 300は、RUDOLPHの高性能検査および計測製品ラインの最新バージョンです。ウェーハ製造プロセスの効率的、正確かつ費用対効果の高い処理を容易にします。このユニットは、ハードウェア部品を変更する必要なく、フロントサイドとバックサイドの両方の計測と欠陥検査を可能にします。RUDOLPH MPIIIA 300は、信頼性の高い欠陥検出と正確な測定を提供するための高度な技術を備えています。たとえば、独自の非破壊光学クリティカル寸法測定（OCD）検出技術を搭載しており、高速で正確で非破壊的な横寸法測定が可能です。さらに、このマシンは特許取得済みの4D検査技術を使用して、60ナノメートルまでの狭い線幅を高精度で識別するのに役立ちます。MPIIIA 300はさらに、パターンの画像を高精度でキャプチャする適応学習アルゴリズムを備えた堅牢なビジョンライブラリを備えています。ウェーハ全体で測定するための広い視野を持つ高度なイメージングツールを備えています。さらに、このアセットは、紫外線レンジでの2Dイメージングが可能であり、ウェーハ表面の表面計測を行うことができます。RUDOLPH MPIIIA 300は高度にカスタマイズ可能で、さまざまなソフトウェアオプションとアクセサリーを装備できます。これらの機能はすべて、あらゆるアプリケーションで全体的なパフォーマンスを向上させます。さらに、RUDOLPH Technologiesは、顧客満足度を保証するために、完全な校正トレーサビリティ、カスタマーサービス、カスタマーサポートを提供します。MPIIIA 300は、半導体試験および計測プロセスの信頼性と精度を最適化する高度で費用対効果の高いウェーハ試験および計測モデルです。その高度な技術と柔軟性は、半導体業界のお客様に幅広いメリットをもたらします。