中古 RUDOLPH MP1-300 #9262045 を販売中

RUDOLPH MP1-300 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、あらゆるサイズまたは形状のウェーハを迅速かつ正確に測定できる完全自動テストソリューションです。このシステムは、幅広いアプリケーション向けにウェーハの効率的かつ正確な特性評価を容易にするように設計されており、自動化により大幅な時間短縮と精度の向上を実現しています。MP1-300はモジュラー設計を備えており、特定のアプリケーションに合わせたカスタム構成を可能にします。ユニットのモジュール性により、コンポーネントを追加、削除、または再構成して柔軟性を高めることができます。また、モジュール性により、必要に応じてコンポーネントを追加できるため、取得コストの削減やメンテナンスコストの削減が可能です。RUDOLPH MP1-300の中心には、強力なスキャン光学顕微鏡（SOM）ステージがあります。これにより、ウェハをスキャンし、可変深度と解像度で測定することができます。マシン全体は、埋め込みウェーハ層、高いアスペクト比の構造、パターン化された表面など、さまざまなウェーハの種類や構造を分析するのに適しています。このツールは、完全なデータ収集と分析のための資産を自動化するRUDOLPH新開発ソフトウェアと密接に統合されています。これにより、ユーザーはウェーハを迅速かつ正確に測定し、データのデータ分析を行うことができます。このソフトウェアは、欠陥を検出するときの周囲の空気温度、湿度、圧力の変動も考慮しており、検出率を向上させることができます。MP1-300は、ソフトウェアのグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）を使用してアクセスしやすく、ユーザーフレンドリーです。GUIは、データ収集、複数の構成、画像サイズとフレームレートの自動最適化、高度な欠陥レビューとレポートなどの機能へのアクセスも提供します。RUDOLPH MP1-300 Wafer Testing and Metrology Modelは、ウェーハ特性評価のための強力で汎用性の高い自動テストソリューションです。この機器の高度なモジュラー設計により、カスタム構成が容易になり、統合ソフトウェアによりセットアップとデータ分析が容易になります。このシステムは、さまざまなウエハの種類や構造の分析に最適であり、手動テストに比べて大幅な時間とコスト削減を提供します。