中古 RUDOLPH MP 300 #9392797 を販売中

RUDOLPH MP 300は、半導体産業で使用するために設計されたハイエンドウェーハ試験および計測機器です。このシステムでは、レーザーベースの計測ツールを使用してウェーハパラメータを正確に測定し、製造チップまたは集積回路（IC）のプロセスを確実に実行できます。計測ツールには、ウェーハ上のダイのアライメント制御、エッチング前後のウェーハの寸法測定、抵抗やフィルムの歪み制御、アクティブデバイスの長さと幅、金属線の正確な配置、電気特性の分析など、さまざまな作業が含まれています。このユニットは、光学顕微鏡、電動XYステージ、走査型電子顕微鏡（SEM）、およびさまざまなソフトウェアパッケージで構成されています。この顕微鏡は、マクロ、ミッドフィールド、およびマイクロイメージングモードを提供し、1ナノメートル以下で最大50％の解像度を提供します。この機能により、超微細な金属相互接続などの非常に小さな機能の計測に最適です。XYステージはウェーハの正確かつ正確な相対位置決めを可能にし、SEMは内部および横方向の特徴のより高い倍率とイメージングを可能にします。測定機能に加えて、このツールにはThermionics、 ICテスター、Theta、 Gauss Meterなどのさまざまなソフトウェアパッケージも付属しています。これらのパッケージは、欠陥解析、信号解析、故障解析、モデルパラメータ比較、統計解析、およびテスト結果の報告のための高度な機能を提供します。このソフトウェアは、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスと使いやすいウィザードを使用して、ユーザーフレンドリーに設計されています。RUDOLPH MP300は、大量生産要件向けに設計された堅牢で信頼性の高い資産です。これは、最先端から最も基本的なレベルの要件まで、さまざまなチップ製造プロセスでの使用に適しています。業界のリーダーによって作られたこのモデルは、専用のカスタマーサポートチームによって支えられ、信頼性とパフォーマンスの実績があります。