中古 RUDOLPH MP 300 #9098967 を販売中

RUDOLPH MP 300は、最先端の半導体製造用に開発された強力なウェーハ試験および計測機器です。先進的な産業用センサと検出器を使用して、ダイ組成、ウェーハ歩留まり、均一性、電気特性などのRUDOLPH MP300ウェーハの製造特性と特性を特定します。自己整列ステージと特許取得済みのミクロン公差ウェーハ位置決めシステムにより、最大450個のさまざまなサイズのウェーハの特性を同時に正確かつ確実に測定および記録することができます。MP-300は、高解像度カメラを使用してウェーハ画像をキャプチャし、分析するとともに、特殊な照明技術を使用して、個々のウェーハの表面とラミネーションを測定します。オンボードコンピュータプログラムにより、ユニットは各ウェーハのダイとワイヤーパターンを測定および比較し、温度やその他の環境要因を測定することができます。さらに、各ウェハの精密な電気特性を分析し、マイクロプロセッサ、メモリ、ロジック回路での使用に適しているかどうかを判断することができます。その高度なアルゴリズムはまた、ウェーハの潜在的な欠陥を特定し、過剰な水分状態を検出するのに役立ちます。MP300には、ウェーハの自動テスト、測定の収集と分析、レポートの生成を可能にする高度な制御エンジンも含まれています。このツールは、多数のウェーハ上で同時に複数のテストを実行するようにプログラムすることができ、多数のテストを迅速かつ正確に分析することができます。さらに、各RUDOLPH MP-300は、オーブンやデータグラフシステムなどの他のシステムと統合することができ、リモートデータの収集とレポート作成が可能です。MP 300は、競争の激しい半導体製造業界におけるウェーハの特性を測定、試験、文書化するのに理想的な機械です。その洗練されたセンサー、検出器、高度なアルゴリズムにより、幅広い製造特性を包括的かつ正確に評価することができ、プロセス制御および分析のための貴重なツールとなります。その信頼性と再現性に優れた性能により、確実な半導体製造に最適です。