中古 RUDOLPH MP 200XCU #9384475 を販売中

RUDOLPH MP 200XCU
製造業者
RUDOLPH
モデル
MP 200XCU
ID: 9384475
ウェーハサイズ: 8"
Cu Film thickness measurement system, 8".
RUDOLPH MP 200XCUは、総合測定ソリューションを提供する強力なウェーハ試験および計測機器です。独自の光学顕微鏡デザインと高品質のイメージングエンジンを搭載しています。この顕微鏡を使用すると、ウェーハ上のサブミクロンの特徴を正確かつ迅速に測定し、デバイスとプロセス制御をテストおよび特性評価することができます。システムには統合されたワークステーションとソフトウェアパッケージがあり、テストと計測操作のためのシンプルなユーザーインターフェイスを提供します。これには、テラピクセル光学系を任意の目的位置に正確に調整するための電動Zステージが内蔵されています。また、基板の画像をリアルタイムでキャプチャする高解像度カメラも搭載しています。RUDOLPH MP 200 XCUには、テスト中にウェーハの向きと傾きを操作できる高度な多軸コントローラもあります。これにより、測定精度と精度が大幅に向上します。高出力LEDソースは、画像をキャプチャし、正確な測定を得るための明るい照明を提供します。このマシンには強力なセグメンテーションアルゴリズムが含まれており、ユーザーはウェーハ上の各欠陥またはフィーチャーの境界を定義することができます。また、さまざまな種類の試験に必要な複数の測定プロファイルを格納する機能も備えています。ユーザーは、現在の測定に必要なテストをすばやく呼び出すことができます。ウェーハの平坦度を測定するために、レーザー干渉計を内蔵しています。このアセットは、コンタクトセンサーを内蔵したユニークなウェーハソーターを備えており、異なるウェーハを正確に識別し、異なるカテゴリに分類します。これにより、特定のデバイスごとに適切なセットアップでウェーハを検査することができます。MP 200XCUは、迅速な処理速度、正確なパフォーマンス、ウェーハ計測のための包括的な自動テスト機能を提供します。このウェーハテストおよび計測モデルは、半導体、自動車、医療、航空宇宙などの業界のさまざまなアプリケーションに最適です。
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