中古 RUDOLPH MP 200XCU #293749731 を販売中

RUDOLPH MP 200XCUは、ウェハテストおよび計測機器です。マルチパラメトリックツールセットによる幅広い測定を提供します。RUDOLPH MP 200 XCUシステムは、ウェーハ特性評価のための絶対的な精度と優れた信頼性を保証します。MP 200XCUはモジュラーアーキテクチャで設計されており、完全な生産速度で正確なウェーハ分析を行うために設計されています。さまざまなウェーハ測定用に構成できる波形解析バンドルを備えているため、インライン解析とオフライン解析の両方に最適です。強力なイメージングマシン、高効率な分光計、正確なパラメータ測定のための高度なビューア、およびその他の分光および画像解析ツールが装備されています。MP 200 XCUは、表面形状、欠陥検査、干渉などの完全なウェハテストを可能にする一連の計測機能を提供します。高度な光学設計により、絶対精度と高いダイナミックレンジが保証されます。このツールは効率的なサーフェスフィーチャーマッピングも可能で、Cross CorrelationやImage Subtractionなどの高度な分析ツールも含まれています。このアセットは、シングルポイント測定やマルチポイント測定など、さまざまなスキャンモードをサポートしており、ユーザーは最適なパフォーマンスを得るためにモデルを簡単に設定できます。ソフトウェア制御の「X-Y-Z」テスターを搭載しており、ウェーハ測定時の自動位置制御が可能です。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えた独自のソフトウェアパッケージは、完全な機器制御を保証し、強力な表面解析ツールを提供します。RUDOLPH MP 200XCUは、研究開発だけでなく、マルチサイトの生産環境にも最適です。構成可能なアーキテクチャにより、生産スループットを最適化し、低収率の材料の分析をサポートするための非常に汎用性の高いプラットフォームです。このシステムは、一貫した校正結果を保証するために校正することができ、幅広いデータエクスポートオプションを提供します。RUDOLPH MP 200 XCUは、さまざまな業界向けに完全なウェーハテストと計測ソリューションを提供します。その堅牢な設計と卓越した性能により、ウェーハコンポーネントの正確な分析を必要とする組織にとって非常に貴重な資産となります。