中古 RUDOLPH Metapulse XCu #9170417 を販売中

RUDOLPH Metapulse XCuウェハテストおよび計測機器は、ウェハテストおよび計測アプリケーションに高精度の結果を提供します。ハードウェアとソフトウェアが統合されているため、今日の超小型、高密度、複雑な相互接続構造の生産を自動化できます。このシステムは、特許取得済みのMetapulse Vision Gauging Unit （MVG）を備えており、測定の最高精度を確保しながら、高速動作を維持します。また、幅広い光学および電気試験機能を備えており、ユーザーは高品質のイメージングと測定を行うことができます。マシンはセットアップが簡単で、ユーザーインターフェイスは直感的でユーザーフレンドリーです。ユーザーのアプリケーションニーズに応じて設定でき、ツールの最も重要なコンポーネントに簡単にアクセスできます。さらに、この資産には、データキャプチャ、ストレージ、および検索を自動化および簡素化する統合ソフトウェアが装備されています。このソフトウェアは、ユーザーのニーズに合わせてカスタマイズしてカスタマイズできるさまざまなレポートを生成するために使用できます。このモデルは、ウェーハの正確な分析と特性評価を提供するため、広範な後処理と手動解釈の必要性を低減します。これにより、製造メーカーは生産を厳しく管理することができます。また、生産ラインを通過する際にウェーハのインラインテストと計測を行うことで、高品質な一貫性を維持することができます。Metapulse XCuはクローズドループビジョンシステムを備えており、表面フィーチャー、クリティカル寸法、デポジット厚、ウェーハフュージョンなど、複数の機能をリアルタイムで分析できます。また、可変イメージキャプチャと高度な3Dイメージング技術を備えており、効率的な表面検査が可能です。このユニットの他の用途には、欠陥検出、信頼性試験、相互接続構造の計測の分析などがあります。RUDOLPH Metapulse XCuウェハテストおよび計測機は、汎用性、信頼性、使いやすさを考慮して設計されています。直感的なユーザーインターフェイスと高度な光学および電気テストスイートにより、ユーザーは製品の完全性を迅速に判断し、コストのかかるエラーのリスクを軽減できます。このツールの精度と速度は、半導体製造におけるウェーハ試験および計測アプリケーションにとって非常に貴重なツールです。