中古 RUDOLPH MetaPulse-III 300 #9383418 を販売中

RUDOLPH MetaPulse-III 300は、半導体ウェーハの測定において比類のない性能と効率を提供する最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、高度なハードウェア、ソフトウェア、およびユーザーフレンドリーなコントロールを組み合わせて、生産性と精度を向上させます。このユニットは、ユーザーにウェーハのプロービングとテストのための高速で信頼性の高い方法を提供するように設計されています。この機械は、偏光ビームコンバイナ（PBC）と2軸の角度分光楕円計（ARSE）の2つの主要コンポーネントで構成されています。PBCは、ウェーハ表面から単一の偏光ビームを反射して、透過率、反射率、吸収率を測定します。ARSEはPBCと連携して、偏光の変化と比率の変化を測定してウェーハの偏光特性を測定します。このツールには、ユーザーが簡単にテストをセットアップして監視できる堅牢なソフトウェアパッケージが含まれています。ウェーハの自動解析、3Dサーフェスマッピング、トポグラフィデータ、リアルタイム欠陥検査、プログラマブルオートメーション、データロギングなど、幅広い機能を提供します。さらに、アセットのデュアルチャネル光スペクトル機能により、ウェーハの伝送スペクトルと反射スペクトルの両方を同時に特徴付けることができます。MetaPulse-III 300は、オペレータの快適性と安全性を促進するために人間工学的に設計されています。軽量でコンパクトな設計と堅牢な構造により、生産環境と研究環境の両方での使用に最適です。このモデルは、可変周波数スイープ、温度制御、多点プロービング機能などの柔軟なオプションも提供します。全体として、RUDOLPH MetaPulse-III 300は、最新のウェーハテストのすべてのニーズをカバーする強力で汎用性の高い試験および計測機器です。洗練されたハードウェアコンポーネント、直感的なソフトウェア、人間工学に基づいた設計の組み合わせにより、ユーザーは常に正確な結果を出すことができます。その結果、MetaPulse-III 300は、高精度の半導体試験、研究、デバイス製造など、幅広い用途に最適です。