中古 RUDOLPH MetaPulse 300 #9401107 を販売中

RUDOLPH MetaPulse 300は、高精度で信頼性の高いウェハテストおよび計測システムです。具体的には、光学デバイスや太陽光発電デバイスなどの高度なマイクロエレクトロニクス用途に使用されるコンポーネントの薄膜コーティング層の品質を分析および測定するために使用できます。MetaPulse 300は、薄膜層と大面積の基板の両方に優れた分析機能を提供します。従来の破壊試験技術と比較して、RUDOLPH MetaPulse 300は非接触、非破壊光学技術を使用して、高精度で高解像度の光学特性を測定します。これにより、基板上の薄膜層の測定や、結晶配向、欠陥などのマップ作成に特に適しています。MetaPulse 300には、包括的な計測ソリューションを提供する独自のRUDOLPH 4Dパッケージが付属しています。これには、高解像度RGBレーザーシステムとハイエンド光学系が内蔵されています。その結果、ウェーハの光学特性と欠陥の両方を識別して測定することができます。さらに、結晶方向マップや詳細な表面トポグラフィマップなど、基板表面の完全な特性評価を提供することができます。RUDOLPH MetaPulse 300は、薄膜層の抵抗や静電容量などの電気特性を測定するためにも使用できます。これは、任意の方法でサンプルに損傷や影響を与えることなく行うことができます。また、欠陥検出および測定のための高度なアルゴリズムも含まれており、異常を検出および診断するのに役立ちます。さらに、MetaPulse 300は高度に設定可能で、ほぼすべてのアプリケーションに合わせてカスタマイズできます。これは、大量の本番環境で使用するために設計されており、直感的でユーザーフレンドリーなインターフェイスが付属しています。また、安定性と精度が重要なクリーンルームや温度制御チャンバーなど、要求の厳しい用途にも使用できるように設計されています。RUDOLPH MetaPulse 300は、包括的で非破壊、高精度のウェーハ試験および計測ソリューションを提供し、あらゆるタイプの薄膜層および基板の特性を測定するための貴重なツールです。