中古 RUDOLPH MetaPulse 300 #9229638 を販売中

RUDOLPH MetaPulse 300は、半導体製造に特化した最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、2インチから8インチまでのさまざまな半導体ウェーハサイズをテストすることができ、ウェーハ表面の自動3次元スキャンを提供します。RUDOLPH Technologiesが開発したAMI（アコースティックマイクロイメージング）イメージングチップを内蔵し、高解像度の断面イメージングを提供し、包括的な分析を可能にします。このマシンは、ボイド、バンプ、クラック、バンプ、デラミネーション、およびウェーハのその他のトポロジ特性を検出する機能を備えています。MetaPulse 300は、精密かつ効率的な機能のためにユニークな4軸モーションツールを使用しています。ウェーハの多方向、同時運転とX-Y-Z動作位置決めアセットを組み合わせることで、試験片の検査ゾーン全体に沿って高速な動作が可能になります。さらに、このモデルの速度制御機能は、サンプルに損傷を与える可能性のある突然の動きを低減します。さらに、装置には200〜500ミクロンの可変レーザビームスポットサイズが装備され、940 nmのレーザダイオードを搭載しています。この調整可能なスポットサイズにより、より正確な制御が可能になり、レーザダイオードは最適なレーザ性能を提供します。さらに、Electro-Optical Generatorは、周波数の全範囲にわたって瞬時に4チャンネルの信号を生成し、動的利得制御に使用されます。このジェネレータはまた、精度を向上させるために複数のチャネルを追加する柔軟性を持っています。また、ステンレス製のエンクロージャを装備し、オペレータの安全性を向上させています。最後に、ユニットは人間工学に基づいたデザインで、操作が簡単になります。また、ウェーハ製造において一般的な衝撃や振動などの環境負荷にも耐えます。この堅牢な構造により、長い稼働時間でも信頼性の高い正確なデータ出力が保証されます。RUDOLPH MetaPulse 300は、さまざまなタスクを正確に処理できる汎用性の高いウェーハテストおよび計測ツールです。測定プロセスをより正確で効率的にするために必要なすべての機能と機能を備えています。優れたスキャン機能、堅牢な構造、効率的な設計により、MetaPulse 300は半導体製造に最適なソリューションです。