中古 RUDOLPH MetaPulse 300 #9083733 を販売中

RUDOLPH MetaPulse 300は、半導体産業におけるプロセスの精度と信頼性を向上させるために設計された自動ウェーハ試験および計測装置です。MetaPulse 300は、高精度の光学、スキャン、および電気解析ツールを使用して、ウェーハのパフォーマンス指標を測定します。最大300MHzの動作周波数をサポートし、既存の生産ラインに簡単に統合できます。このシステムは、高いスループットと高いサイクルタイム精度のために設計されており、正確で正確な試験結果を保証します。このユニットには、光学検査、表面粗さと地形、ウェハの電気特性、300MHz欠陥検査機など、複数の測定および検査サブシステムが装備されています。これらのサブシステムにより、パラメトリック変動およびフォルト検出の高分解能解析が可能です。単方向スキャンツールには、複数のプログラムを並列に実行できる外部トリガエレクトロニクスが装備されています。この資産は、データの正確性を監視および維持するためのさまざまな統合ソリューションも提供しています。自動化されたテスト制御、ウェーハ環境制御、データ収集と分析、リアルタイムレポート、欠陥パターン認識などが含まれます。RUDOLPH MetaPulse 300は、すべての主要なSPCソフトウェアパッケージと互換性があり、既存の生産プロセスに迅速かつ簡単に統合できます。モデルは信頼性が高く、非常に効率的です。手動解析の必要性を排除し、運用効率を向上させ、スループットを向上させます。また、ウェーハテストおよび計測プロセスの再現性とトレーサビリティを確保し、モニタリング、データベンチマーク、および品質管理アプリケーションに適しています。結論として、MetaPulse 300自動ウェーハ試験および計測機器は、半導体業界にとって信頼性が高く効率的なテストソリューションです。精密スキャンおよび測定機能を提供し、既存の生産プロセスと合理化された統合を可能にします。このシステムは、運用の生産性を向上させ、データの再現性とトレーサビリティを保証します。