中古 PRINCETON APPLIED RESEARCH / PAR 410 #77229 を販売中

PRINCETON APPLIED RESEARCH/PAR 410は、生産中にウェーハ上のさまざまなパラメータを高精度に測定できる、汎用性と革新的なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、複数のレーザー、カメラ、検出器を含む高度な光学構成を使用して、ウェーハの電気的特性と光学特性の両方を非常に高い精度と一貫性で測定します。PAR 410には、半導体ウェーハの幅広い物理的および電気的特性を測定する能力があります。電気特性には、誘電特性、抵抗率、可動性などがあります。光学特性には反射率と透過率があり、ウェーハの化学的および機械的特性を特徴付けるために使用することができます。また、空間分解能と再現性の高いパターン化されたウェーハの測定も可能です。PRINCETON APPLIED RESEARCH 410には、デバイスプログラミングインターフェイス（DPI）、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイス、堅牢なテストのライブラリなど、幅広い機能が搭載されています。DPIにより、エンドユーザーはマシン上のさまざまなデバイスを制御し、テストプログラムをカスタマイズしたり、ツールからデータをダウンロードして保存したりすることができます。さらに、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイスにより、ユーザーはデータをすばやく視覚化し、結果の分析を支援します。アセットに含まれている堅牢なテストのライブラリは、ユーザーが測定しているウェーハのテストを素早く簡単に設定できるため、モデルの設定に時間を費やし、結果を分析する時間を短縮できます。さらに、この機器には自動校正システムも搭載されており、ユーザーは簡単にユニットを再調整して、測定の一貫した精度と信頼性を保証することができます。要約すると、410ウェーハ試験および計測機械は、半導体ウェーハの幅広い物理的および電気的特性を測定するための汎用性と信頼性の高いソリューションです。高度な光学構成、堅牢な試験ライブラリ、ユーザーフレンドリーなグラフィカルインターフェイス、自動校正ツールにより、半導体ウェーハの品質管理と生産テストに最適です。