中古 PHOSEON MX1001 #9226712 を販売中

PHOSEON MX1001は、信頼性の高い正確な結果を迅速かつ効率的に提供するように設計されたウェーハテストおよび計測システムです。ダイレクトイメージングおよびレーザー変位計測技術を採用したMX1001は、優れた分解能と精密測定機能を提供します。PHOSEON MX1001は、III-V半導体ウェーハの充電リアルタイムマッピングを実現するエピタキシャルタイムゲート分光法（OUETS）を光学的に使用しています。OUETS技術は、電荷、電子移動性、欠陥密度、および幅広い基板およびチップの電気パラメータに関する詳細な局所情報を提供します。これをレーザー変位計測と組み合わせることで、MX1001は高速イメージングと高精度の測定を提供します。また、高効率光源を採用し、ウェーハ表面の拡散均一な照明を実現し、測定精度を向上させています。PHOSEON MX1001は直感的なユーザーインターフェイスを備えており、セットアップと操作が簡単で、高度に自動化された測定が可能です。ダイレベル情報の迅速かつ信頼性の高い解析を可能にするため、統合解析パッケージの一部として強力なダイセパレータを搭載しています。また、MX1001は、包括的なレポートを迅速に生成するための強力なデータ分析およびレポートツールの完全な範囲を提供しています。PHOSEON MX1001は、高度なイメージングおよび測定機能を備え、ウェーハキャリブレーション、ウェーハ測定、ダイ評価および特性評価、電気的および抵抗特性のセルフテストなど、さまざまなアプリケーションに最適な汎用性の高いウェーハテストおよび計測システムです。これは、あらゆる半導体生産ラインのニーズに合わせてカスタマイズできる単一および複数のツール構成で提供され、さまざまなアプリケーションに対応するスケーラブルなパフォーマンスを提供します。