中古 PHILIPS IR-3100 #9093385 を販売中

PHILIPS IR-3100は、デバイスの特性評価、材料特性の評価、ナノスケールでのウェーハの計測のための速度、精度、柔軟性を提供する最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、カスタムの光学アライメントとスキャン光学ユニットの選択を備えており、ユーザーは高い横解像度とダイナミックレンジを達成することができます。IR-3100には、自動サーフェスプロファイリングと品質保証のための高度なソフトウェアアルゴリズムと、迅速なサンプル調製のための組み込みツールも含まれています。広視野イメージングツールとガントリーベースの設計とカスタムマウント資産を備えた精密ナノポジションステージを備えており、広範囲にサンプリングすることができます。このイメージングオプティクスとステージを組み合わせることで、ウェハテストと計測における速度と再現性を実現します。このモデルには可変ステップスキャンモードも装備されており、ユーザーはさまざまなサンプリング要件に合わせて横方向の解像度を調整することができます。可変ステップスキャンモードは、幅広い材料や表面構造に対して柔軟性を提供します。PHILIPS IR-3100は、サンプル反射率のリアルタイム解析が可能な統合分光装置をパッケージしています。これにより、ナノスケールでの材料の特性評価のための波長分解および波長重複光分光法を実行できます。IR-3100は高度なパターン制御も備えており、ユーザーはサーフェステストのセットアップをカスタマイズできます。「アダプティブメトロロジー」機能は、表面条件の変化に合わせてイメージングパラメータを自動的に調整し、最高品質のデータ取得を保証します。PHILIPS IR-3100は効率的で高速なウェーハテストと計測を可能にします。統合された分光装置を提供するだけでなく、ユーザーはリアルタイムのデータ収集と分析を特徴とする複数のサンプリングアプローチを選択できます。高度なアルゴリズムとパターニング制御ソフトウェアにより、装置は自動測定および品質保証作業に特に適しています。可変ステップスキャンモードにより、幅広い材料や表面構造に適しているため、試験機器のセットアップにかかる時間を節約し、精度を高めることができます。