中古 ORC MEM-5926 #9017907 を販売中

ORC MEM-5926は、薄膜デバイスの精密測定に複数のビームレーザースキャンを利用するように設計された試験および計測機器です。このシステムは、薄膜多層光学コーティングを含む複数の複雑な金属および誘電材料で動作することができます。このユニットは、回折格子、薄膜反射板、ビームスプリッタ、偏光板、反射防止コーティングなどの薄膜光学デバイスを正確かつ再現可能に測定するダブルビーム干渉測定技術に基づいています。この機械は、光源、スキャンユニット、およびエレクトロニクスコントローラで構成されています。光源は、薄膜デバイスの高精度かつ再現性の高い測定を提供するデュアル波長ダイオードレーザーです。スキャンユニットには、2組のミラーと回転ディスクがあります。このディスクは、2つの別々のレーザービームで薄膜デバイスをスキャンして測定するために使用されます。各レーザーの反射は、CCDカメラによって記録され、ソフトウェアベースの画像処理アルゴリズムを使用して分析されます。コントローラは、レーザーソースとミラー/ディスクスキャンの正確で信頼性の高い制御を提供します。それは感受性の異なったレベルの複数のモードで作動でき、2次元スキャンのレジームおよび3次元の両方で働くことができます。コントローラは、統合された画像取得プログラムを使用して、薄膜デバイスの画像をキャプチャすることもできます。このツールは、0。05nm ±の精度で薄膜光学部品を測定することができます。また、0°Cから55°Cまでの幅広い動作温度を提供し、加速あたり200gまでの物理的衝撃に耐えることができます。これらの機能により、MEM-5926はさまざまな薄膜デバイス試験および計測アプリケーションにおいて、汎用性、高性能、コスト効率に優れたオプションを提供します。