中古 ORC MEM-5296D #9396950 を販売中

製造業者
ORC
モデル
MEM-5296D
ID: 9396950
ヴィンテージ: 2007
Bump height measurement system 2007 vintage.
ORC MEM-5296Dは、試験および測定機器のリーディングプロバイダーであるORC Systemsによって設計されたウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、生産テスト、プロセス制御、データ分析を強化する高度な機能を多数備えています。MEM-5296Dは、生産効率を最適化するために既存の組立ラインに組み込むことができる完全自動化ユニットです。強力なイメージングマシン、マルチステージコントローラ、レーザー干渉計、光顕微鏡など、最新のハードウェアコンポーネントを備えています。これにより、部品や材料の広い範囲で小粒子、欠陥などの特性を正確に測定、検査、制御することができます。ORC MEM-5296Dは、製造プロセスを最適化し、生産を加速するための多数のテストおよび計測オプションを備えています。レーザー干渉計と顕微鏡を使用してライブイメージを作成し、エンジニアとオペレータが簡単に粒子と欠陥を検査して特徴付けることができます。このツールは、表面積の分析、表面粗さ、粒度分布(PSD)など、複数のテストと測定を同時に実行できます。また、ウェハレベルのプロセス安定性評価や歩留まり管理にも対応しています。テスト結果の精度を確保するために、MEM-5296Dには校正アセットが装備されており、テスト中のすべての段階の自動校正と検証を可能にします。また、包括的なデータ管理とストレージ機能を備えており、過去の結果を簡単に保存および取得できます。さらに、ORC MEM-5296Dには大型ディスプレイと直感的なユーザーインターフェイスが装備されており、モデルの構成と操作を簡素化します。この装置は外部コンピュータとは独立して動作し、テスト中の頻繁なオペレータ介入の必要性を最小限に抑えます。半導体ウェーハMEM-5296Dチップ、プリント基板、ハイブリッド基板など幅広い基板試験が可能です。最先端の機能、堅牢なハードウェア、カスタマイズ可能なソフトウェアにより、自動車、産業、航空宇宙アプリケーションに最適です。高度なテスト機能と強化されたユーザーコントロールを提供するこのシステムは、生産プロセスを最適化する組織に最適です。
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