中古 ORC MEM-5296D #293643637 を販売中

ORC MEM-5296Dは、AFM （Atomic Force Microscopy）を直接表面波測定に利用することで、リソグラフィを必要とせずにナノメートルレベルまで高精度な表面データを提供できる、最先端のウェーハ試験および計測機器です。MEM-5296Dは各種ウェーハの波形を直接測定するように設計されており、AFMシステムは0。3nmの解像度でウェーハ表面波を直接制御することができます。ORC MEM-5296Dは、ウェーハの全面と全面に波形データを提供することができ、信頼性の高い波形と波形が最大50 μ mのスキャン領域を報告します。このユニットには2D平面波形解析機能が搭載されているため、波形形状の波形特性を簡単に分析できます。MEM-5296Dはまた機械ハードウェアまたは環境条件によるゆがみを除去するサンプルを自動訂正することができます。この自動補正機能は、スキャン平面波の自己補正と呼ばれ、毎回安定した信頼性の高い結果を提供します。このツールはまた、統合されたソフトウェアを通じてデータ処理および波形解析機能を提供し、PEダイアグラムとAngle Traceをグラフィカルに表示して波形を理解します。ORC MEM-5296Dには、タッチスクリーンのユーザーフレンドリーなインターフェースがあり、データの入力と表示が簡単で、総合的な測定とデータ分析プロセスを合理化するために設計された強力なソフトウェアアプリケーションがあります。MEM-5296Dは、拡散プロファイル性能を検査するための半導体デバイスの製造、品質評価、および故障解析に使用するために設計されています。ウェーハの表面プロファイルの高精度な3次元輪郭図をユーザーに提供することができ、ハイテクメーカーにとって非常に貴重なツールとなります。ORC MEM-5296Dは、自動位相調整、自動焦点アセット、リニアスキャン速度制御、ソフトウェア制御オートメーションオプション、高感度スキャン機能、GPIB/USB/RS-232通信機能など、さまざまな技術機能を提供しています。これらの機能により、MEM-5296Dはウェーハ表面の特性をテストおよび測定するための不可欠なモデルです。