中古 OPTEK 712VA #9383811 を販売中

OPTEK 712VA Wafer Testing and Metrologyは、自動化された環境で高精度と再現性を必要とするアプリケーション向けに設計されています。このプラットフォームは、適用可能な測定のための独自のソフトウェアソリューションを備えた第7世代のOPTEK試験および計測システムに基づいています。このシステムは、高いスループット測定を高精度かつ再現性で提供し、ハイエンド測定を実現するための双方向操作、電動シーケンス制御、温度制御など、多くの機能を提供します。このユニットは、厚さマッピング、電気機器の特性評価、フラットパネルディスプレイ試験や計測など、さまざまなアプリケーションで迅速な測定を実現できます。広い200mmの円形と400mmの長方形の視野を備えており、幅広い部品の集計測定が可能です。光学センシングマシンには、精密測定および試験結果用の10 x 10アレイのHDプローブが搭載されています。さらに、このツールは高度なキャパシタンスプロファイリングアセットを備えており、高解像度データを使用して高速で高感度なキャパシタンス測定を可能にします。また、8軸モーションモデルは、さまざまなウェーハ測定に対応した堅牢な制御を可能にし、機器の重要な構成要素となっています。システムの測定範囲は0。5 μ mから5mmであり、最大測定可能なドリフトは2ppm/minです。機械ユーザーインターフェイスは、直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを提供し、複数の測定とパラメータを簡単に自動化することができます。また、712VAにはサンプルメモリが搭載されており、最大300個のサンプルを保存できるため、複数のシステム間での容易なアクセスと共有が可能です。OPTEK 712VAには、ユーザーの精度、再現性、優れたパフォーマンスを保証するさまざまなハードウェアおよびソフトウェア機能が装備されています。自動化された環境でも精度と再現性を実現できる、効率的で信頼性の高い強力なツールです。幅広い機能と機能を備えた712VAは、ウェーハテストと計測にとって非常に貴重なリソースです。