中古 OHKURA DP2301 #9374938 を販売中

OHKURA DP2301は、大面積の半導体集積回路を測定および特性評価するための幅広い機能を提供するウェーハ試験および計測機器です。半導体デバイスの電気特性を検査・評価するシステムです。このユニットには、高精度で信頼性の高い測定を提供する加工テーブル、イメージングマシン、および測定器が含まれています。DP2301ツールは、直径300mmまでのウェーハをサポートするように設計された加工テーブルから始まります。また、個々のウェーハから量産バッチまで、さまざまな構成で複数のウェーハをサポートしています。ウエハを装填すると、イメージング資産を使用してクラック、チップ、および欠陥構造などの欠陥を検査することができます。この検査は、明るいフィールド、偏光、暗いフィールド画像技術のユニークな組み合わせを使用して行われます。半導体デバイスを検査し、視覚的にクリアすると、測定器を使用して電気特性を分析することができます。このモデルには、抵抗、容量、消費電力、および電圧安定性を測定するために使用できるさまざまな測定器があります。測定は、プロセスの安定性やフォルト検出など、さまざまなレポートを生成するためにも使用できます。さらに、この装置には顕微鏡も装備されており、電気測定を補完するための詳細な可視化を提供することができます。最後に、OHKURA DP2301は包括的なソフトウェアサポートと包括的なツールを提供し、完全なシステム評価を行います。これらのツールには、使いやすいグラフィックユーザーインターフェイス、データ収集ツール、自動ウェハソート、画像解析、マクロプログラミングが含まれます。これらのツールは、評価プロセスを自動化し、手動検査にかかる時間を短縮するのに役立ちます。全体として、DP2301は、半導体集積回路を正確かつ確実に測定および特性評価できる強力なウェーハ試験および計測ユニットです。独自の機能と包括的なサポートツールにより、半導体デバイスの処理と評価に効率的で信頼性が高く、費用対効果の高いソリューションを提供します。