中古 OHKURA DP2301 #9144807 を販売中

OHKURA DP2301は、半導体製造ラインにおける歩留まり解析およびプロセス監視のための正確で信頼性の高いデータを提供するために設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。この製品は、より高価で時間のかかる計測システムに代わる費用対効果の高い製品であり、ウェーハの薄型化、酸化層厚さ、表面粗さ、総用量、抵抗率、C-V測定など、さまざまな作業に使用できます。このシステムは、最大200mmのウェハサイズに対応できる単一のウェハステージを備えています。DP2301の高度な設計は、正確な計測に不可欠なステージの正確で再現性の高いアライメントと位置決めを提供します。また、ウエハハンドラを内蔵しており、ウエハカセットからウエハステージへのウエハ搬送が可能です。これにより、迅速かつ簡単な測定設定が保証されます。OHKURA DP2301には、サンプルのイメージングと測定を行うための強力なレーザー光学装置が搭載されています。このツールの高解像度は、破片や汚染の小さな粒子を検出する能力と相まって、プロセス監視に最適です。また、複数のウェハスキャンを同時に実行することも可能で、歩留まり解析を大幅に高速化します。DP2301は、包括的な分析と評価に使用できる包括的なデータを提供します。このデータには、ダイツダイ抵抗、薄い酸化物層の厚さ、表面粗さ、総層のdosediferences、 X線吸収率測定などが含まれます。直感的なソフトウェアとユーザーフレンドリーなインターフェイスにより、データ分析と生成が非常に簡単になり、他のシステムとのシームレスな統合が可能になります。OHKURA DP2301は、長期運用に必要な信頼性と耐久性を備えて設計・構築されており、製造ラインなどの過酷で危険な環境にも耐えることができます。アセットのモジュラー設計により、必要なメンテナンスや修理を迅速かつ手間のかからない状態で行うことができます。全体として、DP2301は最も信頼性が高く、費用対効果の高いウェーハテストおよび計測システムの1つです。高い精度と再現性で信頼性の高い性能を提供し、さまざまな作業に適しています。