中古 OHKURA DP2301 #9134043 を販売中

OHRKURA OHKURA DP2301 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、集積回路の検査とテストのために設計された高性能な自動プラットフォームで、ナノメートル（nm）サイズの精度を可能にします。ICウェーハの3Dサーフェスモデルを作成するために、2D画像をキャプチャして分析する立体スキャナをベースにしています。埋め込みアルゴリズムは、これらの画像を使用して、システムがフィーチャー検出に使用するテスト用の詳細なマップを作成します。DP2301は、自動焦点機能を備えた高解像度カメラを備えており、より正確で正確な検査を可能にします。オプトエレクトロニクスの測定ユニットは、高精度の測定を可能にし、手動測定技術よりも精度と高速動作を向上させます。このマシンはさらに、最適化された動きと制御のためのコンピュータ制御ウェーハテーブルを備えています。この精密ステージ設計は、ウェーハアライメントのナノメートル範囲での精度を提供し、デュアルサイドウェーハテスト用に統合することができます。OHKURA DP2301には、パラメータ制御、データインポート、エクスポート機能、データストレージのためのユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスも付属しています。DP2301は、ウェーハアライメントと検出のためのユニークな方法論を利用しています。このツールは、エッジ検出アルゴリズムに依存してアライメントを決定し、フィーチャー検出用のZ軸高さマップを生成します。高さマップは、グレースケール値を使用してICの位置と配置を決定します。さらに、フィーチャー検出アルゴリズムへの入力として高さマップを使用して、欠陥を分離および検出します。OHKURA DP2301のイメージング資産は、包括的なIC技術試験をさらに可能にし、さまざまな試験機能と計測要件をサポートします。その試験機能には、静電容量、抵抗、信頼性、駆動電流/抵抗測定などがあります。また、ウェーハの両側でマルチサイトテストを行うことで、ICのすべての3D計測要件をサポートできます。OHRKURA DP2301は、IC製造の生産精度と一貫性を確保するために不可欠なツールです。高度な機能により、完全なウェーハ仕様の詳細な分析とテストが可能になり、信頼性の高い生産環境を実現します。