中古 NOVASCAN 420 #195144 を販売中

NOVASCAN 420は、ベンダー、メーカー、研究センター向けに設計された洗練されたウェーハテストおよび計測機器で、さまざまなウェーハタイプの性能を評価することを目的としています。シリコン・オン・インシュレータ（SOI）やシリコン・オン・プラチナ（SOP）ウェハなど、さまざまな半導体基板から、小型・大型ウェハの画像解析や3Dサーフェスマッピングが可能です。このシステムは、両面ナノメータースキャンユニットをベースにしており、ピット、傷、ポリッシュパターンの不規則性など、幅広いナノメートルの表面特性をキャプチャすることができます。また、プロファイル統計、2Dイメージング品質テスト、3Dサーフェスイメージングなど、オンボードの表面欠陥解析と高度な計測機能も提供します。必要な精度と柔軟性をユーザーに提供するために、420は高度な光学系、ソフトウェア、モーター部品を備えています。これにより、ウェーハ全体を高速にスキャンできます。さらに、このマシンのオートフォーカスとオートコリメータ機能により、ウェハや写真がなくても、表面や写真の角度の変化を追跡することができます。NOVASCAN 420は、アセットの機能に加えて、ウェーハ検査用スピンドル、大型ウェーハ用ウェーハキャリア、エッジモニタリングヘッドなど、さまざまなアクセサリーも提供しています。これらは、分析前にウェーハを整列させ、必要なサンプルアライメントを提供するのに役立ちます。また、SEM （Scanning Electron Microscope）、 X-Ray Metrology Instruments、 Wafer Designersなどの他の機器と統合して、オールインワンテストソリューションを作成することもできます。全体として、420は高度なウェーハテストおよび計測機器であり、ユーザーにテストと分析で最高の品質を提供するように設計されています。NOVASCAN 420は、先進的な光学系、包括的なアクセサリー、および他の試験装置と統合する能力を備え、ウェーハ試験のニーズに対応する完全なソリューションです。