中古 NOVA V2600 #9233453 を販売中

NOVA V2600ウェーハテストおよび計測装置は、信頼性の高い、正確で再現性のある結果を提供するように設計された、高精度、自動化されたウェーハテストおよび計測測定システムです。高解像度の光学顕微鏡と最新の自動検査および欠陥認識ソフトウェアを統合し、効率的で費用対効果の高いワイヤレスイメージングソリューションを提供します。V2600は、シリコン、ガラス、セラミックスなど、さまざまなウエハ材料の均一性と厚さを正確に測定することができます。NOVA V2600は、接触イメージセンシング（CIS）、レーザースキャン、走査型電子顕微鏡（SEM）技術を活用して、ウェハ表面を正確に検査・分析します。このタイプの計測は、欠陥認識、仮想マッピング、プロセスパラメータの監視などのアプリケーションで有益です。V2600は、ウェーハの表面特性を測定するために、さまざまな自動ビジョンシステムも備えています。これらのシステムには、自動ロボットウェーハハンドラ、エッジ検出システム、および特許取得済みのさまざまな照明技術が含まれます。NOVA V2600は、4軸スキャン機能、最大500x倍率の高解像度光学顕微鏡、完全に統合されたビジョンユニット、および全範囲の線形および角運動にわたる正確なウェーハ位置決め精度など、さまざまなハードウェア機能を備えています。さらに、このマシンは最大12インチのサンプルをサポートし、リアルタイムのフィードバックと結果の報告を提供します。V2600のその他の主な機能には、空間マッピング、欠陥の2Dおよび3Dマッピング、ウェーハの位置を変更するためのステージ調整、プロセスパラメータのリアルタイム追跡などがあります。このツールは、ダイダイ変動、直接欠陥認識、および粒子汚染に伴う歩留まり損失の低減を測定できるため、ウェハ検査、計測、およびプロセス制御アプリケーションに最適です。さらに、欠陥のあるウエハーは検査プロセスから回収して再加工することができ、完全なプロセス制御と最適な製品品質を保証します。NOVA V2600 Wafer Testing and Metrology Assetは、正確で再現性のあるウェーハテストと計測測定を実現するための高度で信頼性の高いモデルです。コスト効率が高く正確な方法で、さまざまな材料で信頼性と再現性の高い結果を達成できます。その包括的なハードウェアおよびソフトウェア機能により、正確かつ再現性のあるウェーハテストと計測を可能にし、歩留まり損失を低減し、製品の信頼性を向上させます。