中古 NOVA NovaScan 3090 Next SA #293761312 を販売中

NOVA NovaScan 3090 Next SAは、半導体産業の大規模な生産のために構築されたウェーハ試験および計測機器です。これは、テストプロセスの効率を最大化するために、データポイントごとの総スループットとスループットを最適化することを目的に設計されています。このシステムは、表面プロファイルのサンプリングや自動サンプル分析などの高度なスキャン技術を使用して、高精度な結果を提供します。これは、シリコン、化合物半導体、金属酸化物を含む基板の範囲をカバーしています。ウエハーには、200mmから8までのサイズの範囲を含めることができます。NOVA NOVASCAN 3090 NEXTSAは複数のスキャン速度を提供し、大規模な生産を可能にします。高速XYスキャナはサンプル表面のナノメートル精度を提供しますが、アンメトリカル表面プロファイル測定と一貫した自動サンプル分析のために、より高速な直接読み取りXYスキャンが組み込まれています。校正モジュールを内蔵することで、正確さと速度を確保するために、生産の信頼性を高め、迅速なデータ分析を可能にします。高度なモーションコントロールとステッチシステムだけでなく、最適化されたソフトウェアは、スキャン中に適切なモーションコントロールを可能にします。さらに、ユーザーフレンドリーなインターフェースは、大きなカラータッチスクリーンコントロールを使用し、ヒストグラム、散布プロット、タイムスタンプを備えた数値データを使用してレポートを自動的に生成します。さらに、NovaScan 3090 Next SAには、ウェーハトポグラフィを測定および評価するための専用ソフトウェアとハードウェアも組み込まれています。このユニットは、最大20メートルの印象的な輝度距離を持つ一定のUVレーザーを使用しており、高精度のリッジ幅の測定と自動画像解析を可能にします。全体として、NOVASCAN 3090 NEXTSAは、大規模な半導体生産のための生産性とプロセス効率を最大化するように設計された高精度のウェーハ試験および計測機です。高度なスキャンおよび分析技術により、高精度で迅速な結果が得られます。