中古 NIPPON NAFS-3070P #9078494 を販売中

NIPPON NAFS-3070Pウェーハ試験・計測機器は、半導体関連業界における幅広い業務において効率的なツールです。これは多次元システムであり、最新のロジック統合とMEMSアプリケーションのために、ウェーハやその他のコンポーネントの電気試験と光学検査の両方を実行することができます。NAFS-3070Pのウェハテスト機能には、パワーデバイスICのパラメータ測定、ノイズ測定、熱抵抗テスト、100Vへの高電圧試験、および高周波でのスイッチング特性などがあります。このユニットには最大6つのテストチャネルと最大4つの測定モジュールがあり、各チャネルの高速スキャンモジュールを使用して毎秒60台のデバイスをテストできます。日本NAFS-3070Pの光検査機能は、高度な顕微鏡、光学検査、3Dイメージング、イメージング加工技術を活用しています。これは、単一のショットで最大1000xの差動倍率で高解像度の画像をキャプチャする機能を提供します。また、統合されたオートフォーカス機を搭載しており、各サンプルのフォーカスをリセットすることなく、各サンプルに複数のフレームを取ることができます。NAFS-3070Pには高度なユーザーインターフェイスも用意されており、ユーザーはテストのセットアップ、測定設定の割り当て、データのキャプチャをすばやく行うことができます。このツールは、PDFやEXCELスプレッドシートを含むレポートのエクスポート機能の広い範囲を提供しています。また、NIPPON NAFS-3070Pでは、データをすばやく簡単に保存・アクセスできる、総合的なデータ管理機能を備えています。NAFS-3070Pウェハテストおよび計測資産は、あらゆる種類の半導体および関連アプリケーション向けの非常に強力で汎用性の高いツールです。それは信頼でき、有効な性能を提供し、費用効果が大きく、使いやすいです。日本NAFS-3070Pは、高度な光学検査機能、包括的なデータストレージおよび管理機能を備え、半導体企業、研究室などの企業に最適です。