中古 NIKON AM-601M #9209442 を販売中

NIKON AM-601Mは、半導体ウェーハの特性を正確に測定するために設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは高度な自動化アルゴリズムを使用しており、これらの材料を正確かつ正確に検査することができ、信頼性の高い結果が得られます。このユニットは簡単にプログラム可能に設計されており、既存の生産ラインや実験室の実験に組み込むことができます。AM-601Mは、広い画像領域と高解像度カメラを備えており、さまざまなウェハベースのデバイスを検査することができます。この自動化された機械は変位、間隔、幅、高さ、区域、圧力、等を含むさまざまな均一および不均一特性の非常に精密な測定を、得ることができます。NIKON AM-601Mは、最大1ナノメートルの精度で顕微鏡画像を撮影・分析できるデジタル顕微鏡ツールを採用しています。また、先進的な光学画像処理アルゴリズムを採用しており、半導体構造の形成における誤差を正確に検出することができます。さらに走査型電子顕微鏡を搭載し、ウェーハ試料表面の3Dイメージングを実現しています。さらに、ベアスポット、グレア、小型ダイサイズのミスマッチなど、ウェーハ表面の光学的欠陥を検出する機能を備えています。AM-601Mはレーザー光源も備えており、ヒロックやディッシュなどのレーザー標識を測定することができます。NIKON AM-601Mは、ウェーハストレス、仕上げ測定、ステップハイト、プロファイルの滑らかさなど、さまざまな計測タスクを実行できます。ウェーハ上のフィルムの厚さを測定し、フィルム欠陥を検出することも可能です。NIKON-AM-601Mにはユーザーフレンドリーなコンピュータインターフェイスがあり、できるだけ正確な測定を行うのに役立ちます。さらに、その高度な自動化は、プロセスに必要な時間を短縮するのに役立ちます。NIKON AM-601Mは精密工学、電子工学の製造業、消費者プロダクト、自動車、および航空宇宙産業を含む広い企業で使用されます。その堅牢な設計により、長期的な信頼性と耐久性が確保され、高度なウェーハ試験および計測作業に最適です。