中古 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT ECV Pro #293744253 を販売中

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT ECV Proは、半導体メーカー向けに設計された高度なウェーハ試験および計測機器です。ウェーハ周囲全体のデバイスパラメータを正確に測定できます。このシステムは、特殊なステレオビジョンオプティクスと高性能エレクトロニクスを使用して、CD、オーバーレイ、エッジなどのパラメータを検出、収集、分析します。このユニットは、300mmまでの範囲のウエハサイズに設定されています。また、追加のコンポーネントを使用して、より大きなウェーハ構成をマウントすることもできます。その他のコンポーネントには、光学顕微鏡、モニタリングステーション、コントローラが含まれています。顕微鏡は、3倍ズームファクタと最大解像度1ミクロンの特別なカメラを持っています。モニターステーションには、ユーザーが調整可能なソフトウェア駆動のディスプレイが搭載されており、ユーザーはディスプレイパラメータを好みに合わせてカスタマイズできます。ACENT ECV Proは、エッジショット、クリティカルディメンション、オーバーレイ、およびウェハ周囲全体のスケーリングを測定するために装備されています。その特別に設計されたソフトウェアは、取得したデータポイントに関する包括的なパラメーター分析を実行します。データはフラットファイル形式で保存できます。また、サードパーティ製ソフトウェアでさらに分析するために、結果をグラフやヒストグラム形式、ASCII形式で出力することもできます。このツールはまた、複数のデータ出力および分析オプションを提供しています。このオプションには、同じウェーハまたは同じ実行から複数の実行結果を組み合わせて、より包括的なモデルを作成する機能が含まれます。さらに、BIO-RAD ECV Proは複数のソフトウェアおよびハードウェアインターフェイスを提供し、外部データソースとアセット間のシームレスな接続を可能にします。最後に、モデルは簡単なインストールと操作のために設計されたコンパクトなフォームファクタに収容されています。ECV Proは、市場で入手可能な最も信頼性の高い高度なウェーハテストおよび計測システムの1つです。パワフルなハードウェアとソフトウェアの組み合わせにより、ウェーハ周辺全体のデバイスパラメータを精密に測定できます。さらに、ユーザーフレンドリーなソフトウェアとハードウェアインターフェイスにより、外部データソースとのシームレスな統合が可能です。その結果、NANOMETRICS ECV Proは、正確で手間のかからないウェーハテストと計測ソリューションを求めている半導体メーカーにとって理想的なソリューションです。