中古 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT CDS 200 #293600166 を販売中

NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT CDS 200は、半導体製造における製造および研究用途向けに設計されたウェハテストおよび計測機器です。CD-SEM （Critical Dimension Scanning Electrical Microscopy）とCD-AFM （Critical Dimension Atomic Force Microscopy）の両方の機能を1つのシステムで提供します。あらゆる半導体材料において、高分解能かつ再現性の高い測定が可能です。ACENT CDS 200ユニットは、Windows 10 Professional x64、またはWindows 7 Professional x64オペレーティングシステムで動作するように構成されており、ユーザー設定がカスタマイズ可能なソフトウェアが付属しているため、ユーザーのニーズにすばやく適応できます。これは、優れた精度と速度と効率を提供するために、二軸サーボ制御ステージを備えています。BIO-RAD CDS 200は、統合されたデジタル信号処理（DSP）とデジタル画像処理（DIP）を使用して、業界標準を超える解像度で重要な寸法測定を行います。NANOMETRICS CDS 200は、CD-SEMやCD-AFMなどのウェーハ上での広範囲の測定を可能にする、高精度で高速スキャンデジタル信号プロセッサ（DSP）を備えています。DSPは、再現性が高く、信頼性が高く、正確な結果を提供します。CDS 200には、現在利用可能な最先端のイメージング機能が搭載されています。リアルタイムと後処理の両方のモードで超高解像度のイメージングを提供します。また、自動フォーカス制御と結果を最適化するためのさまざまなマルチサンプルツールも含まれています。NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT CDS 200は、最高解像度4K、超高解像度と優れたコントラストで色画像をキャプチャすることができる新しい科学グレードのカメラを搭載しています。また、精度と信頼性を確保するために画像を分析し、修正するための洗練されたソフトウェアを備えています。さらに、ACENT CDS 200には、マルチアングル反射計と統合マルチアングル測定機の両方が搭載されており、あらゆるサンプル測定を完全に手動で制御できます。BIO-RAD CDS 200は、半導体製造に最適なツールです。超高解像度のイメージングとスキャン、および信頼性と再現性の高い測定の組み合わせにより、このツールはあらゆるウェーハテストおよび計測ニーズに最適です。