中古 NANOMETRICS Atlas #9271274 を販売中

製造業者
NANOMETRICS
モデル
Atlas
ID: 9271274
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 2007
OCD Metrology system, 8" 2007 vintage.
NANOMETRICS Atlasウェーハ試験および計測装置は、半導体生産環境における正確で正確な計測分析を容易にするように設計されています。NANOMETRICSが特許取得したToF (Time of Flight)半導体計測技術を搭載し、5ミクロン程度のサンプルで10ナノメートル以内までの距離を測定することができます。Atlasは非常に効率的なユニットです。ウェーハの端にある何千ものテストポイントを1秒間で測定できます。また、大規模なサンプルプラットフォーム上に構築されており、直径300mmまでのウェーハを収容できます。このマシンは、可変サンプリング解像度を提供し、ユーザーが特定のアプリケーションの仕様にサンプリングレートを調整することを可能にします。また、データ分析とプレゼンテーションのための強力な可視化ツールも含まれています。このツールの高度なオートフォーカス・アセットにより、測定プロセス全体でプローブとサンプルの表面との距離が最適化されます。これは、繰り返し可能で一貫した結果を保証するのに役立ちます。NANOMETRICS Atlasは非常にユーザーフレンドリーで、最も要求の厳しい計測タスクを支援するために、自動パターン認識や平面内/平面外のアライメント最適化などのスマートな機能を備えています。さらに、このモデルは非常に堅牢で信頼性が高く、典型的なラボやクリーンルーム環境でも中断することなく動作できます。Atlasはまた、Vトレンチ、CMPオーバーエッチング、構造のCD均一性、ウェーハの反り、およびその他のアプリケーションの測定において最高の精度と再現性を保証するさまざまな機能を提供します。さらに、NANOMETRICSの強力な技術およびエンジニアリングサポートチームが支援し、クライアントにメンテナンスとトレーニングを提供します。全体として、NANOMETRICS Atlas Wafer Testing and Metrology Equipmentは、あらゆる半導体生産環境において、正確で反復可能で効率的な計測分析を行うための革新的で信頼性の高いシステムです。このユニットは、最高レベルの精度と信頼性を確保するために、さまざまなユニークな機能を提供しており、NANOMETRICSの優れた顧客およびエンジニアリングサポートによってサポートされています。
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