中古 NANOMETRICS Atlas #9271266 を販売中

NANOMETRICS Atlasは、半導体ウェーハの品質を直接測定するために設計された画期的な新しいウェーハ試験および計測機器です。これは、高度なイメージングハードウェアと独自のアルゴリズムのユニークで革新的な配列を使用して、自動的な画像取得と分析を可能にします。このシステムは、ウェーハ表面全体にわたるウェーハ材料の整合性とウェーハの均質性を迅速かつ正確に分析するように設計されています。高度なイメージング技術と高度な計測技術を活用して、詳細な画像をキャプチャし、ウェーハ材料の特性をマッピングし、ウェーハの品質を深く理解します。Atlasは、ウェーハ表面全体にわたる欠陥サイズ、形状、位置、接続性の自動イメージングと測定を提供します。ソフトウェアは、プロセス制御およびプロセス最適化に使用できる重要なデータを抽出するために画像を処理します。NANOMETRICS Atlasは、ウェーハを0.1µmまで詳細に計測するための高解像度3Dラインスキャン機能も備えています。これにより、ウェーハ材料の特性をより深く分析し、詳細に調査することができます。3Dラインスキャン機能により、ウェーハ上の表面地形やフリンジのマッピングも可能です。アトラスユニットは、複数のトポグラフィー技術を統合し、ウェーハ上のパターン化されたレイヤーのパターンのバリエーションを迅速に決定するための高度なデータ分析機能を提供します。これにより、プロセスエンジニアは、半導体部品の製造におけるプロセス変動を迅速かつ正確に特定し、分析することができます。また、NANOMETRICS Atlasは、ウェーハサーフェス全体の欠陥分布を迅速に識別および分析できる高度な自動データ分析機能を提供します。これにより、ウェーハの品質と製造プロセスの機能に関する詳細な洞察が得られます。結論として、Atlasは強力な高度なウェーハテストと計測機です。包括的なウェーハ品質テストのための高度なイメージング、計測、データ分析機能を提供します。迅速かつ正確な画像解析と欠陥マッピングにより、ウェーハの品質と製造プロセスに関する詳細な情報を提供するように設計されています。