中古 NANO SYSTEM NVM-3025 CIS #9153463 を販売中
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ID: 9153463
Surface profiling system
Includes
(1) Vacuum gauge
(1) AF Filter
(1) Regulator
(1) Filter regulator
(1) Circuit breaker
(1) Solid state relay
(2) 2-Phase micro step drive
(1) IO opto-isolation PCB board
(2) Motion controllers
(2) Power supplies.
NANO Equipment NVM-3025 CISは、精密測定のための商業および産業の要件を念頭に置いて設計されたウェーハ試験および計測システムです。NANOユニットで製造されたこのオールインワンパフォーマーは、半導体ウェーハの低レベルおよび高レベルの試験および計測が可能です。高解像度イメージング：NANO Machine NVM-3025 CISは、1ピクセルあたり最大5 NVM-3025 mの画像解像度を提供し、半導体デバイスの正確な検査を可能にするように設計されてμます。これは、トランジスタゲート長の分析からエッチング深さの特性評価まで、すべてに使用できます。自動表面粗さ特性評価：このツールは、わずか数秒で表面粗さ、表面トポロジ、厚さなどのパラメータを測定することができます。これにより、プロセス制御および欠陥解析に最適なツールとなります。高速スキャン：CIS NVM-3025直感的なインターフェイスと高速スキャンにより、わずか18秒でウェハースキャンを実行し、データを分析し、結果を提供できます。この機能により、プロセスの最適化、重要な欠陥検査、およびその他のアプリケーションに関する問題を迅速に特定できます。複数のツールの組み合わせ：NANO Asset NVM-3025 CISは、複雑な計測タスクを容易にするために、複数のステージの組み合わせを受け入れることができます。このモデルは、表面粗さプロファイラ、顕微鏡システム、干渉計など、幅広い試験能力を可能にする多くの特殊なツールで使用できます。マルチレベルマイクロレベル制御：NVM-3025 CISは、正確な計測結果を容易にするために、マルチレベルマイクロレベル制御システムを使用しています。この装置は、重要なパラメータの正確な操作と測定を可能にするため、システムは正確で繰り返し可能な結果を提供することができます。品質保証オートメーション：NANOユニットNVM-3025 CISは、ウェーハレベルのテストデータの品質保証を支援するオートメーションプロトコルでプログラムされています。堅牢なマシンは、異常が検出されたときにリアルタイムで結果を分析し、すぐに要員に警告することができます。NVM-3025 CISは半導体ウェーハの精密測定に最適です。高解像度イメージング、高速スキャン速度、細かくチューニングされたオートメーションプロトコルにより、生産現場で貴重なツールとなります。
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