中古 NANO SYSTEM 3025 CIS #9153476 を販売中

NANO Equipment 3025 CIS （Compact Inspection System）は、半導体チップ製造用に設計された高性能ウェーハ試験および計測ユニットです。本機は、ウェーハ、集積回路（IC）、薄膜トランジスタ（TFT）などの新技術の効率的かつ信頼性の高い試験を可能にするために開発されました。このツールは、抵抗、容量、および電流漏れなどのこれらのコンポーネントの電気特性を測定するために構築されています。3025 CISは、高い精度とスピードで測定できるように設計されており、人件費と時間を削減するのに役立ちます。その精度は、0。03mm以下の部品を含むさまざまな部品にわたって高精度で測定することができます。他の検査システムと比較して、CCDデジタルカメラとLED複合光学顕微鏡を備えており、3Dフォーカスにより測定精度がさらに向上します。このデバイスには、高感度レーザーと製品を検査するための測定装置も装備されています。この機能は通常、コンポーネントの異常な領域や欠陥を検出するために使用されます。例えば、ウェーハ上の粒界、電気ショーツ、その他の異物を検出することができます。また、空隙、亀裂、反りを識別する能力もあります。NANO Model 3025 CISは、機器の操作をユーザーに完全に制御させるユーザーインターフェースを備えた直接コンピュータ通信を備えています。レシピとテストパラメータを保存してリコールし、パフォーマンスを向上させることができます。また、CやC++などのプログラミング言語との互換性が高く、生産プロセスの開発や最適化に最適です。このデバイスはまた、内蔵データロガーや他の検査システムとの補完機能などの強力な機能を提供します。さらに、このユニットは直感的なタッチスクリーンパネルで駆動され、パフォーマンスを向上させるためにデータベースと相互接続されています。最後に、IPC-A-610E、 IPC-6010、 ISO 9001：2015、 ANSI/ESD S20.20、 J-STD-001、およびUL/IEC/EN 6238要件などのいくつかの品質テスト規格に完全に準拠しています。全体として、3025 CISは、組み込み機能を備えた高精度を実現するために設計された汎用性の高いウェーハテストおよび計測機です。半導体部品の品質管理や生産開発プロセスに最適なデバイスです。