中古 N&K 5700CDRT #9247004 を販売中
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ID: 9247004
ヴィンテージ: 2005
Resist thickness measurement system
For photomask
Broadband spectrometer
Spot size: R 50um, T <400um
Spectral range: 190-1000nm
Trench profile
Patented micro-spot measurement technology
All-reflective optical based system
Square masks, 5"-6"
Phase, TR
2005 vintage.
N&K 5700CDRT装置は、ウェーハトポグラフィの非常に正確な測定を目的として設計された最先端のウェーハテストおよび計測システムです。この高度で信頼性の高い機器は、表面粗さ、ステップハイト、粒度、およびその他のパラメータなど、ウェーハトポグラフィーに関する包括的なデータを提供します。ウェーハテストと計測ユニット5700CDRT、スキャンタイプのデフレクトメトリー技術に基づいています。この革新的な方法により、ウェーハのさまざまな地形特性を効率的かつ迅速に正確に測定することができます。このツールは、表面粗さ、ステップ高さ、テラスなど、幅広い地形特性を測定できます。N&K 5700CDRTには、ビームパス内を素早く移動し、ウェーハのさまざまな地形特性を正確に測定する高速スキャニングミラーが装備されています。ウェーハテストと計測資産5700CDRT、高度なレーザー干渉計モデルを使用して、非常に信頼性の高い正確な地形データを生成します。この装置は、試験中のサンプルの波面プロファイルを正確に分析するために、軸外と軸上の干渉計の両方を組み合わせています。この高度な技術により、N&K 5700CDRTはウェーハ表面の粗さと高さを同時に測定し、1〜2ナノメートルの優れた分解能で結果を得ることができます。また、5700CDRTは非常にユーザーフレンドリーなデバイスです。使いやすいタッチパネルインターフェイスを備えており、ユーザーはシステムを素早くセットアップし、パラメータを調整し、最小限の労力で詳細な結果を得ることができます。ユーザーフレンドリーなインターフェイスとは別に、このユニットはイーサネットやRS232などの他の通信インターフェイスをサポートしています。また、ソフトデータロギング機能を搭載しており、テスト結果を簡単にダウンロードおよび分析できます。全体として、N&K 5700CDRTは信頼性の高い堅牢なウェーハテストおよび計測機であり、ウェーハトポグラフィの正確かつ正確な測定を提供します。高度なスキャンタイプのデフレクトメトリー技術により、ウェーハ表面の幅広い地形特性を迅速かつ確実に測定できます。さらに、操作が簡単な直感的なユーザーインターフェイスも付属しています。このツールは、ウェーハトポグラフィー機能を効率的かつ正確に測定するための優れたツールです。
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