中古 N&K 1712-RT #9312850 を販売中

N&K 1712-RT
製造業者
N&K
モデル
1712-RT
ID: 9312850
Wafer analyzer.
N&K 1712-RTは、ウェーハ材料の高速、正確、非破壊試験のために設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。原子力顕微鏡(AFM)や光学干渉計(IF)など、さまざまなモジュールやスキャン技術を備えており、ひずみ、応力、欠陥密度、欠陥局在、堆積厚、波面など、さまざまなパラメータを測定します。このデータを分析することで、ユーザーはウェーハの性能と潜在的な信頼性の問題を正確に把握することができます。1712-RTは、複数の領域で動作可能な包括的なシステムで、1つのユニットに複数のダイサイズ容量があります。さまざまなスキャンパラメータとサンプルタイプをすばやく切り替えることができます。薄いウエハサンプルと厚いウエハサンプルの両方を最小限のサンプル調製でテストできます。このツールは、非破壊的なアプローチで、ウェーハの端から裏側まで、さまざまなパラメータを効果的に測定します。N&K 1712-RTには、設定を調整して結果を保存するための直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスがあります。これは、ユーザーが複数の形式で結果を表示できる高度な統計分析スイートを備えています。さらに、このアセットにはさまざまな接続オプションが用意されているため、リモート監視や複数のデータセット間でのデータ分析が可能です。スループット、精度、再現性が向上しました。大面積と精密AFMスキャン技術の両方を利用して、ウェーハサンプルの地形を調べ、表面からさまざまなパラメータを測定します。これにより、ウェーハのパフォーマンスをより包括的に把握できるようになり、お客様がアプリケーションに最適な性能のウェーハ材料を選択できるようになります。1712-RTは、最先端の光学系、スキャンプラットフォーム、およびコンポーネントを備えています。高解像度カメラと独自のスキャンアルゴリズムを使用して、ウェーハ表面の欠陥やその他の異常を迅速かつ正確に検出します。また、大規模なデータセットを保存して分析する機能も備えているため、ユーザーは歴史的にもリアルタイムにもさまざまなパラメータを検討することができます。N&K 1712-RTは、ウェーハ材料向けの信頼性の高い高品質な試験および計測システムです。高速かつ正確な測定を行い、データセットを保存し、複数の形式で結果を分析し、ウェーハ表面の欠陥やその他の問題を検出する機能を備えています。その精度、再現性、およびスループットは最高のものであり、厳しい要件を満たす信頼できる結果を必要とする人々にとって優れた選択肢です。
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