中古 N&K 1712-RT #9299902 を販売中

N&K 1712-RTウェーハ試験および計測システムは、ウェーハやその他の半導体基板の特性評価に使用される高度でハイスループットな自動計測プラットフォームです。物理的、電気的、光学的パラメータの強力な測定と、振動、構造、化学、熱解析などの幅広い特性評価オプションを提供します。1712-RTは、ウェーハおよびその他の基板のデバイス構造、材料特性、温度効果、電気特性、光学特性、および誘電特性を迅速かつ再現可能に測定できるように設計されています。また、非接触の欠陥検査および欠陥分析を提供し、プロセスのコンプライアンスを確保します。多種多様なウエハーなどの基板を取り扱う高精度の自動サンプルフィーダを搭載し、検査・分析プロセスをワンステーションに組み込むことができます。N&K 1712-RTには、臨界寸法およびステップ高さ測定、光学マイクログラフィー、化学組成解析、応力マッピングのための高度な計測など、さまざまな測定機能があります。また、3次元測定や断面イメージングも可能です。さらに、高度な信号処理とデータ解析ソフトウェアを備えており、デバイス構造の高速かつ正確なプロファイリング、ならびに輪郭とプロファイルのスライシングを可能にします。1712-RTは、1つのテストステーションで正確で反復可能な測定を提供します。リアルタイムのデータキャプチャ、ビジュアライゼーション、分析機能により、ダイツダイの変動をレポートおよび分析できるため、エンジニアは継続的な生産プロセスを追跡および制御できます。このシステムは、最も複雑な材料、構造、プロセスの故障解析や根本原因調査に使用できます。高度なオートメーションソフトウェアは自動化されたワークフローを提供し、オペレータの安全性を高めながらセットアップと操作を簡素化します。また、幅広いパラメータ設定に対応することが可能であり、ルーチンおよび研究ベースの測定のための多目的で柔軟なソリューションとなっています。その幅広い機能と機能により、ウェーハテストと計測の厳しい要件を満たすための完璧なツールとなります。