中古 N&K 1500 #9111336 を販売中
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ID: 9111336
ウェーハサイズ: 4"-8"
Analyzer, 4"-8"
Spot size: 1 mm
Automated X-Y stage
Duracom Proforma computer
HP P/N: G1103A
LUDL Electronic Products Cat. No.: 73000101,
Virtual Industries Vacuum SMD-VAC GP, P/N: V8000
Joystick/Controller
Standard Sample SiO2 Wafer
Software:
Version 1 (3 floppies)
Version 2 (3 floppies)
Additional floppy of Default Materials
100-240 V, 50-60 Hz, 300 W.
N&K 1500は、高度な半導体デバイスの特性評価用に設計された強力なウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、統合されたウェーハハンドリングとテストプラットフォームを備えており、テスト手順を完全に制御できます。このユニットには、ウェーハ基板を所定の試験位置に移動できる高精度のロボット処理機が含まれています。また、誘電率、シート抵抗、静電容量、トランジスタパラメータなどのウェーハパラメータの正確な測定を可能にする精密測定ツールも備えています。強力なソフトウェアパッケージにより、オペレータは最適な結果を得るための包括的なテストおよび計測手順を設定できます。1500には、誘電率、シート抵抗、静電容量、トランジスタパラメータの高精度測定を提供するC-LABS 1000を含む、さまざまな試験および特性評価ツールがあります。この資産には最大1,000,000データポイントのモデルメモリがあり、オペレータは分析のために大量のデータを格納することができます。付属の計測ソフトウェアにより、試験基板の正確なアライメントが可能になり、エンジニアは数百のウェーハを同時に迅速にスクリーニングすることができます。さらに、この装置には自動識別、測定、データロギング機能が装備されており、オペレータは単一のテストプロセスでさまざまなウェーハを迅速かつ正確に特徴付けることができます。さらに、ソフトウェアパッケージはさまざまなキャリブレーションデバイスとの完全な互換性を提供し、オペレータはさまざまなタイプのウェーハやデバイスに対して機器を迅速かつ効率的に調整することができます。N&K 1500は、先進的な半導体デバイス特性評価用に設計された最先端のウェーハ試験および計測システムです。このユニットは、ユーザーに包括的で正確なテストプラットフォームを提供し、データの迅速かつ効率的な収集、特性評価、およびテストを可能にします。強力なソフトウェアパッケージを利用することで、オペレータは包括的なテストと計測手順を設定でき、1つのテストプロセスで数百のデバイスを迅速にスクリーニングできます。
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