中古 MITUTOYO SJ-402 #9227881 を販売中

MITUTOYO SJ-402 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、さまざまな半導体テストおよび測定アプリケーション向けに正確な試験および測定機能を提供します。X-Y高速スキャン顕微鏡ステージを採用し、4インチウェーハ上でのイメージングと測定を可能にし、3D-levelingおよびAFM測定を容易にする低振動1 軸Zテーブルを搭載しています。さらに、このユニットには、画像処理と解析の自動化されたインターフェイス、迅速な画像ベースの分析と測定、および強力な自動テストおよび測定周辺機器セットが含まれています。このマシンのイメージングおよび測定機能は、高精度の画像キャプチャと解析のための高度なアーキテクチャを提供します。これにより、マイクロプロビングおよび微細構造試験および分析に適しています。フィギュア・オブ・メリット測定ハードウェアは、電気抵抗、静電容量、およびインダクタンスの正確なプロービングおよび測定用に設計されています。このツールは、ジッタおよびパルス幅の解析やその他の高周波パラメータもサポートしています。SJ-402アセットは、高精度・高精度に最適化された強力な画像処理と解析機能を提供します。このモデルの自動画像処理および解析インターフェイスは、パターン認識、特徴抽出、堅牢な画像セグメンテーション、マスク診断、周期性、精密アライメント、およびフラクタル計測を可能にするその他の機能のための特殊なアルゴリズムを活用しています。強力な画像安定化機能により、機器は背景のバリエーションを考慮することができます。このシステムには、電気パラメータの正確かつ迅速な測定を容易にするための自動テストおよび測定周辺機器のスイートが含まれています。このユニットには、自動抵抗テスタ、キャパシタンスブリッジ、インダクタンスアナライザ、AC/DC高分解能電流メーター、および精密レベラーが含まれています。これらのコンポーネントは、様々な電気パラメータを正確に測定することができ、自動試験装置やさまざまな電気プローブで使用できるように設計されています。柔軟なマシンソフトウェアアーキテクチャにより、カスタム測定とパラメトリック測定の両方を迅速かつ正確に行うことができます。このツールには、イメージツールやデータをナビゲートするためのユーザーフレンドリーなビジュアルインターフェイスが含まれています。直感的なユーザーインターフェイスにより、迅速なセットアップとパラメータチューニングが可能になり、特定のアプリケーションに最適なシステムの設計にも役立ちます。全体として、MITUTOYO SJ-402 Wafer Testing and Metrology Assetは、幅広い材料および電気部品を迅速にテストおよび測定するための信頼性の高い汎用性の高いプラットフォームを提供します。このモデルは、半導体試験および測定用途に最適で、電気パラメータの正確な測定と正確なイメージング機能を提供します。