中古 MITUTOYO SJ-401 #9267193 を販売中

MITUTOYO SJ-401は、半導体ウェーハの電気的、物理的、光学的特性を正確に測定するために設計された最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、最大200mmのサイズのウェーハの高解像度イメージングと正確な測定を提供します。最先端の光学ユニットSJ-401搭載し、ウェーハ上の最小サイズでも検出・測定が可能です。MITUTOYO SJ-401は、360°回転可能なカメラを搭載しており、平面面と非平面面の両方の超高解像度の画像を取得できます。内蔵のサンプルステージは位置監視機によって制御され、環境変化によるサンプル移動を排除します。さらに、このユニットは高速スキャンが可能であり、ウェーハの迅速かつ信頼性の高い特性評価を可能にします。SJ-401は、高精度な結果を提供することができる強力なコンピュータツールを備えています。このアセットは、地形、反射率、表面粗さの特性、欠陥解析などの特性を識別することができます。このモデルは、測定結果をデータベースに保存して分析することもできます。MITUTOYO SJ-401は、高精度のウェーハテストと計測に加え、多種多様なアクセサリーに対応しており、さらなる効率化を実現しています。これらには、干渉ワーキングユニット、ステージマウントされた目的、ウェーハビジョンシステム、およびさまざまな産業用ロボットマニピュレータが含まれます。全体として、SJ-401はユーザーに幅広いウエハ特性を正確かつ正確に検出および分析する能力を提供します。高度な光学機器とパワフルなコンピュータにより、ウェーハ表面の試験および計測において、高速で使いやすく、卓越した精度を提供します。