中古 MITUTOYO SJ-400 #9409431 を販売中

MITUTOYO SJ-400 Wafer Testing and Metrology Equipmentは、ウェハベースのコンポーネントの品質検査のためのオールインワンソリューションとして設計されています。このシステムは、接触ウエハ検査ユニットとともに、ACとDCの両方の検査機能を備えています。DCマシンは非接触スキャンを使用し、高精度のリニアエンコーダとドライブを使用してプロファイルデータポイントを個別にキャプチャし、詳細な機能と時間を検査することができます。ACツールは、形状、粗さ、質感などの特性を測定するためのさまざまな光学部品や治具を提供します。MITUTOYO SJ 400ウェーハテストと計測アセットは、画像技術とモーションテクノロジーの両方を使用してウェーハからデータを収集します。高精度のイメージプロセッサにより自動測定が可能になり、4倍のリニアテーブル位置決めにより正確なデータ取得が可能になります。高精度エンコーダによって制御されたコンタクトスタイラスプローブは、ウェーハのプロファイルをスキャンし、高さ、幅、およびバンプ、リブなどのピッチを正確に測定します。スキャンデータは、表面のテクスチャと欠陥を決定するためにも使用できます。SJ-400には、自動データ入力、ストレージ、および分析も備えています。統合されたソフトウェアは、ユーザーが簡単に傾向を識別し、変動性を定量化することができ、メトリクスとグラフィカルレポートを提供します。このモデルは、データのトレンドと統計分析機能を備えたグラフィックディスプレイと数値ディスプレイの両方を使用しています。さらに、SJ 400は、データ変換と分析のためのサードパーティ製ソフトウェアとインターフェースすることができます。MITUTOYO SJ-400は、さまざまな用途にカスタマイズ可能なモジュラー機器です。オプションとして、高解像度顕微鏡、視力検査ユニット、レーザー干渉計、およびその他の光学部品があります。このシステムは高精度で再現性に優れているため、半導体やエレクトロニクス業界のウェハテストにとって非常に貴重なツールとなっています。このユニットは、多種多様なコンポーネントの精密かつ詳細な検査を可能にするため、医療および歯科用途にも最適です。