中古 MITUTOYO SJ-301 #293616958 を販売中

MITUTOYO SJ-301は、半導体ウェーハなどの大面積を測定するために設計されたウェーハ試験・計測機器です。大型ウエハをスキャンし、形状、サイズ、高さなどの部品の特徴を測定することができます。抵抗、静電容量、インダクタンスなどの電気パラメータも測定できます。超高速CCD検査センサを搭載しており、様々な面での高精度・高速測定が可能です。センサーには複数のカメラが搭載されており、解像度が100ナノメートル以下の極小領域の測定に適しています。このツールには、機械的定規に頼らずに非常に小さな距離を測定できる高度な計測ソリューションも装備されています。SJ-301はまた、高精度の任意のサーフェスのスキャンを可能にする3D仮想トラッキングルーチンを提供しています。このアセットは、精度と精度の向上により、多くの半導体関連の測定に最適です。また、機械の校正や洗浄、プロセス監視、さらには自動3D解析にも使用されます。また、MITUTOYO SJ-301は、マスク形状を測定するスキャン装置としても使用できます。正確な測定を行うために、モデルには多軸ベクトル測定オプションが装備されています。この機能により、迅速な測定とリアルタイムフィードバックが可能になります。さらに、装置に材料に調節し、異なった高さおよび角度に合わせることを可能にする自動設定の特徴があります。さらに、高度なグラフィカルユーザーインターフェイスにより、システムの使用が簡単になり、専門家でない人でも正確な測定を行うことができます。SJ-301は、さまざまな業界の広範囲の高精度で高品質な測定を行うための理想的なウェーハ試験および計測ユニットです。その精度、スピード、使いやすさは、多くの半導体関連アプリケーションにとって非常に貴重なツールです。