中古 MICROTRAC Zetatrac #9215442 を販売中

ID: 9215442
ヴィンテージ: 2010
Nanotechnology particle size With charge measurement analyzer (2) Solid-state diode lasers: Wavelength: 780nm Maximum optical output power: 5mW Volume: 0.7 ml-3 ml pH Range: 2 -12 Particle size range: 0.8 Nanometers - 6.5 Microns Scattering angle: 180º Temperature: 10ºC to 80ºC Environmental: Temperature: 10ºC to 40ºC Humidity: Up to 90% non-condensing Zetapotential: Particle size range: 10 Nanometer to 20 Micron Concentration: 0.01 % min to 40 % max Range: -125 to +125 mV Accuracy: 3.8 mV Electrophoretic mobility Range: -10 to +10 m/sec/volt/cm Accuracy: 0.3 m/sec/ volt/cm Chemical compatibility Wetted surfaces includes metal and oxide electrodic surfaces Delrin Teflon Sapphire Aqueous Solvents Power: AC-DC Power supply: 100-240 VAC, 47-63 Hz, +5VDC1% Maximum power: 10W 2010 vintage.
MICROTRAC Zetatracは、半導体および太陽電池メーカー向けに設計された高精度のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、シート抵抗や電流電圧特性などの電気パラメータ、厚さやプロファイルなどの物理パラメータを測定することができる、自動化された非接触計測装置の範囲を提供しています。Zetatracは、高度な光学顕微鏡ユニットを備えており、100倍ズーム機能、0。6ミクロンの精度の高解像度センサーを備えており、デバイスのパラメータを正確に測定できます。MICROTRAC Zetatracは、生産と研究のための効率的で費用対効果の高いテストソリューションを提供するように設計されています。このマシンは、自動アライメントとデータ処理を提供するソフトウェアを備えており、16ビットカメラと分析光学を備えているため、従来の方法よりも迅速かつ正確な測定を提供できます。このアセットには直感的な制御インターフェイスも含まれており、ユーザーはほぼすべてのデバイスからモデルをすばやく操作して分析することができます。Zetatracは、基板の欠陥の検査や汚染、基板の均一性の制御、均一なパターン構造の生成、デバイスの性能の決定など、さまざまな作業に使用できます。また、幅、長さ、ピッチ、ステップサイズ、抵抗、プロファイル測定など、さまざまなパラメータを高精度で測定することができます。この装置にはユニークな金属/酸化物蒸着モジュールが含まれており、ユーザーは最大70 nmの金属または酸化物を迅速かつ最小限のコストで堆積することができます。さらに、MICROTRAC Zetatracは、統合された電源およびソフトウェア制御システムを使用しているため、外部電源や複雑な外部プログラミングを必要とせずに、さまざまなテスト要件にすばやく調整できます。このユニットは、他の機器、プロセス、データベースと容易に接続できるため、小規模および大規模生産の両方に最適なツールです。Zetatracには、さまざまな基板およびデバイスのタイプに迅速かつ正確な測定を提供する機能があります。効率と精度を考慮して設計されており、基板やデバイスを迅速かつ効果的に分析することができます。このマシンは、高精度の試験と計測を必要とするあらゆるアプリケーションに最適です。
まだレビューはありません