中古 MICROTRAC S3500 #9258846 を販売中

MICROTRAC S3500は、半導体産業でマイクロスケール構造を測定および分析するために使用される最先端のウェーハ試験および計測機器です。このシステムは、破壊的および非破壊的な幅広い計測方法を組み合わせて、集積回路の製造に使用されるマイクロスケール構造の高精度な特性評価を保証します。MICROTRAC S 3500は、XYZリニアドライブマシン、高出力照明、および光学、電気、熱、音響などの複数の種類のデータをキャプチャすることができるイメージングツールで構成された多軸スキャンユニットです。この光学イメージングアセットにより、研究者は最大4µmの解像度でウェーハ上の微細構造の画像をキャプチャすることができます。明るいフィールドと暗いフィールドの両方の画像技術を使用して、構造を最大限に可視化します。電気測定では、DCおよびAC電流および電圧源を使用して、導電率、故障、および接触抵抗を測定します。熱成分はウェーハ構造の温度を測定し、様々な材料の熱特性を正確に解析することができます。このモデルには、計測アプリケーション用に特別に設計された包括的なソフトウェアも含まれています。このソフトウェアは、基本的なパラメータ計算から高度な3Dマッピング、欠陥レベルのシミュレーションまで、さまざまなデータ分析およびモデリング機能を提供します。これにより、研究者はデータをすばやく分析し、線幅、接触抵抗、熱伝導率などの重要な特性に関する洞察を得ることができます。S3500は半導体産業に欠かせないツールであり、研究者が高度なマイクロスケール構造の設計、分析、最適化を支援します。ハードウェアとソフトウェアの強力な組み合わせにより、研究者はこれまでにないレベルの精度と精度で複雑な構造を測定、分析、可視化することができます。