中古 MICROTRAC S3500 #9215422 を販売中
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販売された
ID: 9215422
ヴィンテージ: 2006
Micron particle counter system
With sample delivery system
Tri-laser system
Particle size: 0.02 to 2800 microns
Standard range: Wet: 0.24 to 1400 um
Ranges (Wet, dry)
Basic: 0.7-1000 um, 0.7-1000 um
High: 2.75-2800 um, 2.75-2800 um
Standard : 0.24-1400 um, 0.24-1400 um
Special : 0.086-1400 um , 0.24-1400 um
Extended: 0.021-2000 um, 0.24-2000 um
Enhanced: 0.021-2800 um, 0.24-2800 um
Precision:
CV=0.7%, Spherical glass beads D50: 642 micron
CV=1.0%, Spherical glass beads D50: 56 micron
CV=0.6%, Spherical glass beads D50: 0.4 micron
Lasers: Wavelength 780 nm
Power: 3 mW Nominal
Detection system: (2) Fixed photo-electric detectors
Optimal scattered light detection
0.02-163 degrees using (151) detector segments
Data handling:
Data storing format: ODBC
Encryption: Microsoft access databases
Data integrity: FDA 21 CFR Part 11
Typical analysis time: 10 to 30 seconds
Environmental:
Temperature: 10° C-35°C
Humidity: 90% RH
Storage temperature: -10° C-50° C
Pollution: Degree 2
Physical case: Steel and impact resistant plastic
Exterior surfaces: Corrosion resistant paint / Plating
Dry operation:
Maximum pressure: 100 psi
Minimum flow rate: 5 CFM-50 psi
Free of dry contaminants
Moisture / Oil
Vacuum: Exceed 50 CFM
Includes:
Computer
Power cord
Cables
Power
AC Input: 90-132 VAC, 1 Phase, 47 - 63 Hz
200-265 VAC, 1 Phase 47 63 Hz
Power consumption: 10-30 Seconds
2006 vintage.
MICROTRAC S3500は、半導体ウェーハを分析するために設計されたウェーハ試験および計測機器です。ウェーハメトロロジーニーズに特化して開発されており、必要なすべてのテストを完了するための信頼性の高い高精度ソリューションを提供します。MICROTRAC S 3500は、導電性、透過率などの光学特性、リフトオフやステップハイトなどの構造パラメータなど、いくつかのパラメータを検出する高度なレーザースキャン技術を使用しています。S3500の内蔵ハードウェアは、効率的で信頼性の高いテストプロセスを可能にします。これは、最適なスキャン性能と角度分解能のために調整可能な3軸ミラーシステムを備えたスキャンヘッドで構成されています。これは、スキャンヘッドが必要な制御エレクトロニクスと一緒に画像をキャプチャするための光学目的によって支援されます。さらに、このユニットは、収集されたテストデータを迅速かつ正確に分析できるように、さまざまなソフトウェアベースのモジュールも提供しています。S 3500は、Windowsオペレーティングマシン互換ソフトウェアを備えたメインコントローラーユニットとグラフィカルユーザーインターフェイスを備えています。ウェーハテストプロセスの速度を向上させるために、最大の測定範囲、精度、再現性を提供するように設計されています。このツールには、ジオメトリスキャンモジュールと自動マスキング技術も装備されており、マスキングプロセスによる悪影響を回避します。これにより、前のスキャンまたは後のスキャンと直接比較できる正確な結果が保証されます。MICROTRAC S3500は、複数のセンサーから同時にデータを収集することができ、より正確な試験結果を得ることができます。さらに、2次元および3次元イメージング、スポットサイズマッピング、臨界次元（CD）測定、薄膜物性測定などの強力な計測機能を備えています。自動化されたハードウェアおよびソフトウェアソリューションに加えて、MICROTRAC S 3500は拡張サービスとサポートオプションも提供します。この資産は、トレーニングオンサイト、ウェビナー、ソフトウェア更新、24時間年中無休のホットラインサービス、およびエンジニアリングサービス契約で提供され、ユーザーがモデルを最大限に活用できます。さらに、試験結果の最大の性能と精度を確保するために、機器は定期的に維持されます。全体として、S3500は信頼性が高くユーザーフレンドリーなウェーハテストおよび計測システムであり、コストの削減、効率の向上、ウェーハの品質の確保を目的としています。統合された機能と品質保証サポートにより、産業用ウエハテストおよび分析に最適です。
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